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Goniometer 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-023/207
출원번호 US-0507246 (1995-08-18)
우선권정보 DE-4304938 (1993-02-18)
국제출원번호 PCT/EP94/00442 (1994-02-16)
§371/§102 date 19950818 (19950818)
국제공개번호 WO-9419682 (1994-09-01)
발명자 / 주소
  • Grueninger Hans-Wolfgang (Kriftel DEX)
출원인 / 주소
  • Daimler-Benz Aktiengesellschaft (Stuttgart DEX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 6

초록

In a goniometer having several axes around which a crystal specimen to be examined can be rotated, a radiation source, a detector for Bragg reflections and a detector for fluorescence radiation, with the detector making it possible to measure lattice geometry and chemical composition at the same tim

대표청구항

A goniometer, comprising: a specimen table having a crystal specimen securable thereto, said table being pivotable around at least three axes; a radiation source positioned relative to said table so as to direct radiation toward the crystal specimen; a pivotable arm located adjacent to said specimen

이 특허에 인용된 특허 (6)

  1. Parobek Lubomir (San Jose CA), Apparatus for the measurement of the thickness and concentration of elements in thin films by means of X-ray analysis.
  2. Ciccarelli Michael F. (Troy NY) Goehner Raymond P. (Clifton Park NY), Combined x-ray diffraction and fluorescence spectroscopy apparatus with environmentally controllable chamber.
  3. Oishi Tsukasa (Muko JPX) Marui Toshio (Ogaki JPX), Containers for filthy matter.
  4. Tadahiro Abe (Chiba JPX), Method of measuring layer thickness and composition of alloy plating.
  5. Ohsugi Tetsuya (Yokohama JPX) Kyoto Michihisa (Yokohama JPX) Nishihagi Kazuo (Neyagawa JPX), Total reflection X-ray fluorescence apparatus.
  6. Yellepeddi Ravisekhar (Ecublens CHX) Bapst Alexandre (Villa St. Pierre CHX) Negro Pierre-Yves (Ecublens CHX), X-ray analysis apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Aoto, Hiroshi; Takeda, Kenichi; Fukui, Tetsuro; Ifuku, Toshihiro, Dielectric film structure, piezoelectric actuator using dielectric element film structure and ink jet head.
  2. Kamireddi, Srikanth, Intelligent machines and process for production of monocrystalline products with goniometer continual feedback.
  3. Kamireddi, Srikanth, Intelligent machines and process for production of monocrystalline products with goniometer continual feedback.
  4. Kamireddi, Srikanth, Intelligent machines and process for production of monocrystalline products with goniometer continual feedback.
  5. Blank, Basil Eric; Deyhim, Alexander Khosro, Low-cost, high precision goniometric stage for x-ray diffractography.
  6. Schwager, Thomas, Method and arrangement for identifying crystalline phases, a corresponding computer program, and a corresponding computer-readable storage medium.
  7. Maeyama, Masataka; Yamano, Akihito, X-ray multiple spectroscopic analyzer.
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