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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0547449 (1995-10-24) |
우선권정보 | JP-0054221 (1993-03-15) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 7 인용 특허 : 0 |
An electrooptic probe for measuring voltage of an object without contact with the object. The electrooptic probe according to the present invention includes an electro-optic material having a refractive index to light that varies in accordance with an electric field, a conductive reflecting film for
An electrooptic probe comprising: an electro-optic material; a reflecting film disposed on a first end surface of said electro-optic material; a transparent electrode disposed on a second end surface of said electro-optic material; a high-permittivity film disposed on a second end surface of said re
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