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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) | B24B-049/00 B24B-051/00 |
미국특허분류(USC) | 451/5 ; 451/285 ; 451/286 ; 451/287 |
출원번호 | US-0333036 (1994-11-01) |
발명자 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 134 인용 특허 : 0 |
A system and method for chemically and mechanically polishing a semiconductor wafer having a substrate and a surface film. A wafer mounting device, which may include a vacuum chuck, holds the semiconductor wafer without requiring that the wafer have a central aperture. The mounting device and wafer are moved with an orbit-within-an-orbit motion while a tape transport mechanism applies an abrasive polishing tape to the surface film of the moving wafer to polish one surface of the wafer to a flatness of less than two microns. The system determines the thic...
A method of polishing a semiconductor wafer having a substrate and a surface film, said method comprising the steps of: holding said semiconductor wafer without requiring that said wafer have a central aperture; polishing one surface of said wafer to a microscopically smooth surface; determining the thickness of said surface film, in real time, while polishing said wafer; and automatically controlling said polishing step with a control computer, said automatic controlling step including the steps of: providing measurements of said surface film thickness ...