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Method and apparatus for remotely measuring the temperature of a surface 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01K-011/20
  • G01K-003/04
  • G01K-003/06
출원번호 US-0236404 (1994-05-02)
발명자 / 주소
  • Rosengaus Eliezer (3704 Ortega Ct. Palo Alto CA 94303)
인용정보 피인용 횟수 : 26  인용 특허 : 0

초록

A method and apparatus for measuring the temperature profile of a surface exhibiting spatial and/or temporal variations in temperature, e.g., the surface of a machine or a biological system, is disclosed. The inventive method involves forming a layer of chemiluminescent material in thermal contact w

대표청구항

Method for measuring the temperature of a surface which exhibits variations selected from the group consisting of spatial variations and temporal variations, said method comprising the steps of a) applying a layer of at least one chemiluminescent material in thermal contact with said surface, the ch

이 특허를 인용한 특허 (26)

  1. Moon, You Sung; Kwak, Jin Woo, Analysis system and method for visualizing heat conduction.
  2. Bruce J. Bryan ; Stephen Gaalema ; Randall B. Murphy, Apparatus and method for detecting and identifying infectious agents.
  3. Bass Jay K., Apparatus and method for remote temperature measurements.
  4. Jeong, Yoon-Hee; Jung, Dae-Hwa; Moon, Il-Kwon, Apparatus for measuring thermal properties and making thermomechanical modification on sample surface with peltier tip.
  5. Barlett, Darryl; Wissman, Barry D.; Taylor, II, Charles A., Blackbody fitting for temperature determination.
  6. Sundararajan, Narayan; Koo, Tae Woong, Chemiluminescence sensor array.
  7. Sundararajan, Narayan; Koo, Tae-Woong, Chemiluminescence sensor array.
  8. Foulger, Brian; Riches, James; Bollan, Hilary Roberta, Fire detection method.
  9. McGrath, John J.; Lian, Bin, Fluorescence emission ratio imaging thermography for use in heat transfer analysis.
  10. Shimizu Hitoshi,JPX ; Nishioka Yukinori,JPX, Image producing apparatus.
  11. Yaroslavsky, Mikhail, Method and apparatus for non-contact, in-situ temperature measurement of a substrate film during chemical vapor deposition of the substrate film.
  12. Spingler, Mark René; van Laack, Alexander, Method and device for estimating the temperature sensed upon contact with a surface.
  13. Steinboeck, Wolf-Dietrich; Felsberger, Robert; Kraker, Michael; Schneider, Friedrich; Walla, Juergen, Method for monitoring the thermal coupling of a measuring cell.
  14. Kiesewetter, Joerg; Kanev, Stojan; Teich, Michael; Stoll, Karsten; Schmidt, Axel, Method for testing a test substrate under defined thermal conditions and thermally conditionable prober.
  15. Miteva, Tzenka; Nelles, Gabriele; Yasuda, Akio; Balouchev, Stanislav; Lupton, John, Method of determining the temperature in a system.
  16. Miteva,Tzenka; Nelles,Gabriele; Yasuda,Akio; Balouchev,Stanislav; Lupton,John, Method of determining the temperature in a system comprising a molecular heater fraction and a molecular thermometer fraction.
  17. Yazawa, Kazuaki; Tamura, Tetsuji, Method, device and system for controlling heating circuits.
  18. Tanaka Hiroshi,JPX, Microchip device for electrophoresis.
  19. Kwok, Cheuk Sang; Lee, Kit Yee, Microdensitometer system with micrometer resolution for reading radiochromic films.
  20. Levy,Jeremy, Multi-channel dual phase lock-in optical spectrometer.
  21. Eric W. McFarland ; Earl Danielson ; William Archibald, Optical systems and methods for rapid screening of libraries of different materials.
  22. Eric W. McFarland ; Earl Danielson ; William Archibald, Optical systems and methods for rapid screening of libraries of different materials.
  23. McFarland, Eric W.; Danielson, Earl; Archibald, William, Optical systems and methods for rapid screening of libraries of different materials.
  24. Archibald, William B.; Hornbostel, Marc, Parallel screen for rapid thermal characterization of materials.
  25. Shepard, Chester L.; Cannon, Bret D.; Khaleel, Mohammad A., System and method for glass processing and temperature sensing.
  26. Miteva, Tzenka; Nelles, Gabriele; Yasuda, Akio, Temperature and temperature distribution sensing with high resolution in microscopic electronic devices and biological objects.
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