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특허 상세정보

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Sensor apparatus for process measurement

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01D-005/12    G01M-019/00    G01F-023/24   
미국특허분류(USC) 73/8665 ; ; 73/304 ; R
출원번호 US-0574818 (1995-12-19)
발명자 / 주소
  • Cummings Donald D. (Greenwood IN) Wartmann Gerd (Greenwood IN) Perdue Kenneth L. (Franklin IN)
출원인 / 주소
  • Endress +Hauser GmbH +Co. (Maulburg DEX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 26  인용 특허 : 0
초록
▼

A sensor apparatus is provided for transmitting electrical pulses from a signal line into a vessel to measure a process parameter. The sensor apparatus includes a lower flange configured to be coupled to the vessel. The lower flange is formed to include a central aperture defined by a radially outwardly tapered surface located adjacent a top surface of the lower flange. The apparatus also includes a conductive probe element including a head having first and second radially outwardly tapered surfaces and an elongated conductive portion extending away from...

대표
청구항
▼

A sensor apparatus for transmitting electrical pulses from a signal line into and out of a vessel to measure a process variable, the sensor apparatus comprising: a lower flange configured to be coupled to the vessel, the lower flange being formed to include a central aperture defined by an outwardly tapered surface located adjacent a top surface of the lower flange; a conductive probe element including a head having a first outwardly tapered surface, a second inwardly tapered surface, and an elongated conductive portion extending away from the head, the ...

이 특허를 인용한 특허 (26)

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  6. Soroka Valery, High temperature high pressure probe seal.
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  9. Diede Kurt C., Low power radar level transmitter having reduced ground loop errors.
  10. Lovegren, Eric R.; Schumacher, Mark S.; Johnson, James A.; Diede, Kurt C., Measurement of concentration of material in a process fluid.
  11. Volkmer Dieter,DEX ; Schey Peter,DEX ; Plotz Herbert,DEX ; Langhauser Franz,DEX ; Meckelnburg Dirk,DEX ; Klein Hans-Josef,DEX ; Bergner Michael,DEX ; Oelze Jurgen,DEX, Measurement of parameters in reactors having moving stirrers.
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  20. McCarthy, William Patrick; Perdue, Kenneth L.; Cummings, Donald D.; Wartmann, Gerd, Probe mapping diagnostic methods.
  21. Fredriksson,H��kan, Radar level gauge system and coupling.
  22. Eriksson, Mikael, Radar level gauge system and method with signal propagation path modeling.
  23. Donald V. Eason, Sensor apparatus for transmitting electrical pulses from a signal line into and out of a vessel to measure a process variable-in order to be more informative.
  24. Gravel,James L.; Fandrey,Mark C., Tank seal for guided wave radar level measurement.
  25. Lovegren, Eric R.; Diede, Kurt C.; Carlson, Ryan R., Threshold setting for a radar level transmitter.
  26. Haas, Juergen; Hoferer, Christian; Griessbaum, Karl, Weight apparatus for a waveguide, probe apparatus, and method for manufacturing a weight apparatus.

IPC 상위 출원인