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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0680314 (1996-07-11) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 39 인용 특허 : 3 |
A self-testable Digital Signal Processing (DSP) integrated circuit is described, using a Built-In Self Test (BIST) scheme suitable for high performance DSP datapaths. The BIST session is controlled via hardware without the need for a separate test pattern generation register or test program storage.
A integrated circuit including a self-testable digital signal processor comprising: a programmable data path comprising an arithmetic and logic unit (ALU), a register, and a plurality of logic blocks for digital signal processing (DSP) functions comprising non-arithmetic and non-linear functions, a
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