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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0870455 (1992-04-15) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 53 인용 특허 : 0 |
A method for generating a validated measurement of a process parameter at a point in time by using a plurality of individual sensor inputs from a scan of said sensors at said point in time. The sensor inputs from said scan are stored and a first validation pass is initiated by computing an initial a
[ We claim:] [1.] A method for generating a validated measurement of an industrial process parameter at a point in time by using a plurality of individual sensor inputs from a scan of said sensors at said point in time for display at a process control panel, comprising:(a) storing the sensor inputs
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