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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0697200 (1996-08-21) |
우선권정보 | JP-0223449 (1995-08-31) |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 4 인용 특허 : 2 |
where DV represents the voltage of said secondary cells when used; DI, a current flowing in said secondary cells; T, the temperature of said secondary cells; F, the extent of deterioration of said secondary cells; and K, a predetermined proportional constant.
[ What is claimed is:] [6.] A method of detecting the remaining capacity of the at least one secondary cell, comprising the steps of:finding the open voltage of the at least one secondary cell, OCV, by using the following equation: EQU OCV=DV+K.times.DI.times.T.times.F re DV represents the voltage o
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