$\require{mediawiki-texvc}$
  • 검색어에 아래의 연산자를 사용하시면 더 정확한 검색결과를 얻을 수 있습니다.
  • 검색연산자
검색연산자 기능 검색시 예
() 우선순위가 가장 높은 연산자 예1) (나노 (기계 | machine))
공백 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 예1) (나노 기계)
예2) 나노 장영실
| 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 예1) (줄기세포 | 면역)
예2) 줄기세포 | 장영실
! NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 예1) (황금 !백금)
예2) !image
* 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 예) semi*
"" 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 예) "Transform and Quantization"

특허 상세정보

Device and process for measuring the position of a first axis in relation to a second axis, in particular for measurin

국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01B-011/26    G01B-005/24   
미국특허분류(USC) 356/139.09 ; 356/139.03 ; 33/288 ; 33/608
출원번호 US-0528880 (1995-09-15)
우선권정보 DE-4432828 (1994-09-15)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
대리인 / 주소
    Foley & Lardner
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 3
초록

The invention relates to a device and a process for measuring the position of a first axis in relation to a second axis, in particular for measuring a bicycle frame having a steering axis which, in the desired state, lies in a main plane of symmetry and has a second axis which, in the desired state, runs at right angles to the main plane of symmetry, for example a swinging arm axis or a bottom bracket axis of a bicycle frame. The device or process includes measuring bodies being fitted to the first axis to be measured and two image recording devices, in ...

대표
청구항

[ What is claimed is:] [1.] A device for measuring the position of a first axis in relation to a second axis, in particular for measuring a bicycle frame, the first axis lying in a main plane of symmetry, and the second axis running at right angles to the main plane of symmetry, said device comprising:at least two measuring bodies each fitted to an object to be measured in a fixed spatial relationship to the first axis;at least two image recording devices each adapted to generate an image signal;a positioning member for positioning said at least two imag...