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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0660954 (1996-06-10) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 0 |
Environmental enhancement by controlling volatile organic compound (VOC) and NO.sub.x emissions in a flatline wafer drying system. The method is characterized by advancing the wafers of the type used in manufacture of oriented strand board (OSB) on a flatline conveyor embodying a plurality of dryer
[ We claim:] [1.] Multi-zone method for controlling VOC and NO.sub.x emissions in a flatline conveyor wafer drying system embodying a plurality of dryer zones comprising:a. advancing wafers in random array on a flat wire conveyor belt having laterally restrictive openings with the wood wafers being
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