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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0726512 (1996-10-07) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 27 인용 특허 : 3 |
An enhanced, scalable EEPROM memory cell is provided with a structure having a plurality of half-height tunnel oxide depletion mode transistors. The structure further has individual wordlines controlling the write and read transistors, respectively. With such a structure, lower voltages are used to
[ What is claimed is:] [1.] A scalable memory cell, comprising:a first transistor having a source, a drain and a gate, the drain connected to a first voltage line;a first wordline coupled to the gate of the first transistor;a second transistor having a source, a drain and a gate, the drain coupled t
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