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V.sub.pp only scalable EEPROM memory cell having transistors with thin tunnel gate oxide 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G11C-016/04
  • H01L-029/788
출원번호 US-0726512 (1996-10-07)
발명자 / 주소
  • Li Xiao-Yu
  • Barsan Radu
출원인 / 주소
  • Advanced Micro Devices, Inc.
대리인 / 주소
    Fliesler, Dubb, Meyer & Lovejoy LLP
인용정보 피인용 횟수 : 27  인용 특허 : 3

초록

An enhanced, scalable EEPROM memory cell is provided with a structure having a plurality of half-height tunnel oxide depletion mode transistors. The structure further has individual wordlines controlling the write and read transistors, respectively. With such a structure, lower voltages are used to

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A scalable memory cell, comprising:a first transistor having a source, a drain and a gate, the drain connected to a first voltage line;a first wordline coupled to the gate of the first transistor;a second transistor having a source, a drain and a gate, the drain coupled t

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Logie Stewart (Palo Alto CA), EEPROM using a merged source and control gate.
  2. Brahmbhatt Dhaval J. (San Jose CA), Improved logic cell array using CMOS E2 PROM cells.
  3. Josephson Gregg R. (Aloha OR) Bower Douglas H. (Beaverton OR) Tennant David L. (Salem OR), Single poly EE cell with separate read/write paths and reduced product term coupling.

이 특허를 인용한 특허 (27)

  1. Madurawe Raminda U. ; Wong Myron W. ; Costello John C. ; Sansbury James D. ; Mielke Bruce E., Apparatus and method for margin testing single polysilicon EEPROM cells.
  2. Madurawe, Raminda U.; Wong, Myron W.; Costello, John C.; Sansbury, James D.; Mielk, Bruce E., Apparatus and method for margin testing single polysilicon EEPROM cells.
  3. Madurawe, Raminda U.; Wong, Myron W.; Costello, John C.; Sansbury, James D.; Mielke, Bruce F., Apparatus and method for margin testing single polysilicon EEPROM cells.
  4. Li Xiao-Yu ; Fong Steven J. ; Mehta Sunil D., Avalanche injection EEPROM memory cell with P-type control gate.
  5. Logie Stewart G., Avalanche programmed floating gate memory cell structure with program element in polysilicon.
  6. Madurawe Raminda U. ; Smolen Richard G. ; Liang Minchang ; Sansbury James D. ; Turner John E. ; Costello John C. ; Wong Myron W., Biasing scheme for reducing stress and improving reliability in EEPROM cells.
  7. Schmidt Christopher O. ; Mehta Sunil D. ; Li Xiao-Yu, Boron doped silicon capacitor plate.
  8. Mehta Sunil D. ; Li Xiao-Yu, EEPROM cell using P-well for tunneling across a channel.
  9. Xiao-Yu Li ; Steven J. Fong, EEPROM cell with tunneling across entire separated channels.
  10. Li Xiao-Yu ; Fong Steven J., EEPROM cell with tunneling at separate edge and channel regions.
  11. Jiang, Chun; Tu, Robert; Mehta, Sunil D., EEPROM tunnel window for program injection via P+ contacted inversion.
  12. Sunil D. Mehta, Floating gate memory apparatus and method for selected programming thereof.
  13. Schmidt Christopher O. ; Mehta Sunil D., Floating gate memory cell structure with programming mechanism outside the read path.
  14. Krieger, Juri H.; Yudanov, Nikolai, Memory device.
  15. Krieger, Juri H.; Yudanov, Nikolai, Memory device.
  16. Yang Hsu Kai, Memory device having enhanced programming and/or erase characteristics.
  17. Krieger, Juri H.; Yudanov, Nikolai, Memory device with active passive layers.
  18. Mehta Sunil D., Method of fabricating, programming, and erasing a dual pocket two sided program/erase non-volatile memory cell.
  19. Mehta Sunil D., Method of forming a non-volatile memory device.
  20. Tu Robert H. ; Mehta Sunil D., Method of operating EEPROM memory cells having transistors with thin gate oxide and reduced disturb.
  21. Bloch, Didier; Bourbon, Carole; Le Cras, Frédéric; Nowodzinski, Antoine, Non-volatile electrochemical memory device.
  22. Fong Steven J. ; Logie Stewart G. ; Mehta Sunil D., PMOS avalanche programmed floating gate memory cell structure.
  23. Tao, Guoqiao; Dijkstra, Johannes; Verhaar, Robertus Dominicus Joseph; Davies, Thomas James, Semiconductor device.
  24. Fong Steven J. ; Li Xiao-Yu, Two transistor EEPROM cell.
  25. Jiang, Chun; Mehta, Sunil; Logie, Stewart, Zero power memory cell with improved data retention.
  26. Jiang, Chun; Mehta, Sunil; Logie, Stewart, Zero power memory cell with reduced threshold voltage.
  27. Mehta Sunil D. ; Sharpe-Geisler Brad ; Fong Steven, Zero-power CMOS non-volatile memory cell having an avalanche injection element.
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