$\require{mediawiki-texvc}$
  • 검색어에 아래의 연산자를 사용하시면 더 정확한 검색결과를 얻을 수 있습니다.
  • 검색연산자
검색도움말
검색연산자 기능 검색시 예
() 우선순위가 가장 높은 연산자 예1) (나노 (기계 | machine))
공백 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 예1) (나노 기계)
예2) 나노 장영실
| 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 예1) (줄기세포 | 면역)
예2) 줄기세포 | 장영실
! NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 예1) (황금 !백금)
예2) !image
* 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 예) semi*
"" 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 예) "Transform and Quantization"

통합검색

도움말도움말
상세검색 다국어 입력

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

특허 상세정보

MyON담기
내보내기 페이스북 공유 카카오톡 공유

Temperature determining device and process

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01J-005/00    G01J-005/08   
미국특허분류(USC) 374/127 ; 374/121 ; 374/09 ; 374/045 ; 364/557 ; 364/556
출원번호 US-0329456 (1994-10-26)
발명자 / 주소
인용정보 피인용 횟수 : 22  인용 특허 : 13
초록
▼

The present invention relates to a totally novel device and process useful for the measurement of the temperature of a radiating body. More particularly, the present invention relates to a device that enhances the resolution and repeatability of the measured temperature of the radiating body by fitting a mathematical correlation to the emitted radiation spectra, generating calculated radiation intensities at specified wavelengths using the mathematical correlation, and then generating a suite of individual two-wavelength temperature values, which can be ...

대표
청구항
▼

[ I claim:] [1.] A process for determining the temperature of a radiating body, comprising:a) quantifying the radiation intensity emitted by a radiating body at no less than 4 distinct wavelengths;b) generating a mathematical function which represents said quantified radiation intensities at the corresponding wavelength at which said radiation intensity was quantified;c) selecting no less than two specific wavelengths;d) generating a spectral intensity using said mathematical function for each of said wavelengths; ande) determining an individual two-wave...

이 특허에 인용된 특허 (13)

  1. Rosenthal Robert D. (Gaithersburg MD) Rosenthal Scott B. (Gaithersburg MD). Apparatus for near infrared quantitative analysis. USP1981084286327.
  2. Rosenthal Robert D. (Gaithersburg MD). Apparatus for near infrared quantitative analysis with temperature variation correction. USP1983094404642.
  3. Rosenthal Robert D. (Gaithersburg MD). Apparatus for near infrared quantitative analysis with temperature variation correction. USP1984084466076.
  4. Brouwer Nicholaas L. (Allegheny Township ; Allegheny County PA) Urbanic John M. (Churchill Borough PA) Anderson Albert R. (White Valley PA). Emissivity error correcting method for radiation thermometer. USP1987044659234.
  5. Khan Mansoor A. (Grafton MA) Allemand Charly (Newtonville MA) Eagar Thomas W. (Belmont MA). Emissivity independent multiwavelength pyrometer. USP1992075132922.
  6. Tank Volker (Eching DEX). Method and system for optically measuring simultaneously the emissivity and temperature of objects. USP1990114974182.
  7. Vasilieva Inna A. (Moscow SUX) Urinson Alexandr S. (Moscow SUX). Method of determining temperature of gas and particles in magnetohydrodynamic generator. USP1984014428058.
  8. Cashdollar Kenneth L. (Bethel Park PA) Hertzberg Martin (Pittsburgh PA) Litton Charles D. (Pittsburgh PA). Multichannel infrared pyrometer. USP1979034142417.
  9. Arima Jiro (Osaka JPX) Tsujimura Hiroji (Osaka JPX). Pyrometer. USP1990124979133.
  10. Poenisch Paul (Santa Clara CA) Hansen Keith (San Jose CA). Remote measurement of temperature. USP1991065021980.
  11. Tatsuwaki Masao (Osaka JPX) Nemoto Shin (Osaka JPX) Katayama Yutaka (Wakayama JPX) Okada Michio (Wakayama JPX) Hotta Kazuyuki (Wakayama JPX). Temperature pattern measuring device. USP1982124365307.
  12. Amith Avraham (Roanoke VA) Naselli Charles (Roanoke VA) Nevin C. Scott (Albion IN). Transmission method to determine and control the temperature of wafers or thin layers with special application to semico. USP1990014890933.
  13. Suarez-Gonzalez Ernesto (Tequesta FL) Oqlukian Raymond L. (North Palm Beach FL). Triple spectral area pyrometer. USP1992065125739.

이 특허를 인용한 특허 피인용횟수: 22

  1. Ish-Shalom Yaron,ILX ; Baharav Yael. Active pyrometry with emissivity extrapolation and compensation. USP2001106299346.
  2. Johnson,Shane R.; Zhang,Yong Hang; Johnson,Wayne L.. Apparatus for measuring temperatures of a wafer using specular reflection spectroscopy. USP2007067234862.
  3. Barlett, Darryl; Wissman, Barry D.; Taylor, II, Charles A.. Blackbody fitting for temperature determination. USP2012108282273.
  4. Earl, Dennis Duncan; Kisner, Roger A.. Emissivity independent optical pyrometer. USP2017049612160.
  5. Dimmick,Timothy Eugene; Harper,Kevin Randolph. Method and apparatus for measuring spatial temperature distribution of flames. USP2008067384191.
  6. Celentano Mike ; Wiley Greg. Method for Blackbody lamp reference compensation using a single silicon photodiode. USP2000056057912.
  7. Grek, Boris; Weitzel, Michael; Markle, David A.. Methods and apparatus for temperature measurement and control on a remote substrate surface. USP2010067744274.
  8. Wiklund, David E.; Kleven, Lowell A.. Multivariable process fluid flow device with energy flow calculation. USP2014098849589.
  9. Schumacher,Mark S.. Process device with density measurement. USP2008127461562.
  10. Kleven, Lowell A.; Tewfik, Ahmed H.. Process transmitter with orthogonal-polynomial fitting. USP2003116643610.
  11. Johana Vally FR; Olivier Legras FR; Philippe Herve FR; Frederic Peronnet FR; Marc Bernard FR; Eric Collet FR. Sensor for measuring temperature and/or concentration. USP2002016341890.
  12. Berstis, Viktors. System and method for demonstrating and investigating brownian motion effects on a diamagnetically suspended particle. USP2005076918283.
  13. William M. Glasheen ; Charles DeMilo ; Helmar R. Steglich. System and method for determining combustion temperature using infrared emissions. USP2002076422745.
  14. William M. Glasheen ; Charles DeMilo ; Helmar R. Steglich. System and method for determining combustion temperature using infrared emissions. USP2002036354733.
  15. Yudaya Raju Sivathanu. System and method for determining combustion temperature using infrared emissions. USP2002046370486.
  16. Yudaya Raju Sivathanu. System and method for determining combustion temperature using infrared emissions. USP2002056393375.
  17. Ralph A. Felice. Temperature determining device and process. USP2002046379038.
  18. Yano, Kenji; Iwata, Misao; Hashimoto, Miyuki; Kitagawa, Kuniyuki; Arai, Satoshi; Arai, Norio. Temperature distribution measuring method and apparatus. USP2004116814484.
  19. Liu,Yan. Temperature measurement apparatuses and method utilizing the alexandrite effect. USP2006057052177.
  20. Liu,Yan. Temperature measurement apparatuses and method utilizing the alexandrite effect. USP2006027004624.
  21. McIntosh, Devon R.. Two-stage multiwavelength thermal radiation analyzer. USP2004056738724.
  22. Lin, Kevin; Tsao, Simon; Yin, Chu Chung; Weng, Vincent. Two-way display infrared thermometer. USP2003126669362.

IPC 상위 출원인