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Broad spectrum spectrometer apparatus

국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-003/02
  • G01J-003/12
출원번호 US-0755486 (1996-11-22)
우선권정보 AU-0007152 (1995-12-14)
발명자 / 주소
  • Stanco Alexei,AUX
  • Aizfagendler Mark,AUX
출원인 / 주소
  • Lastek Laboratories Pty. Ltd., AUX
대리인 / 주소
    Renner, Kenner, Greive, Bobak, Taylor & Weber
인용정보 피인용 횟수 : 25  인용 특허 : 2

초록

This invention is for a broad spectrum apparatus that provides a substantially uniform spectral response from a spectrometer by introducing one or more elements whose combined response or correction factor is the inverse of that produced by the rest of the apparatus. The response of the elements can

대표청구항

[ We claim:] [1.] An apparatus for analysing the intensity of electromagnetic radiation from a sample comprising;a dispersing spectrometer in combination with a light source;said light source being adapted to illuminate the sample whose spectral properties are to be measured, the light from said sam

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. Jackson Ralph Newton (Endicott NY) Kern Richard Wilhelm (Vestal NY) Tong Alvin Hu (Poughkeepsie NY), Self-calibratable spectrum analyzer.
  2. Mathisen Einar S. (Poughkeepsie NY) Schumann ; Jr. Paul A. (Wappinger Falls NY) Tong Alvin H. (Poughkeepsie NY), Spectrum analyzing system with photodiode array.

이 특허를 인용한 특허 (25)

  1. Fodgaard, Henrik, Apparatus, sample cuvette and method for optical measurements.
  2. Kevin J. Carney ; John S. Brown, Constituent sensing system.
  3. Sawada,Kenichi; Ishikawa,Atsushi; Suzuki,Hiroyuki, Image pick-up device.
  4. Harbers, Rik; Schildknecht, Kurt, Increasing the usable dynamic range in photometry.
  5. Erich R. Gross ; Anthony S. Lee, Integrated optics probe for spectral analysis.
  6. Larsen, David W.; Xu, Zhi, Light scattering detector.
  7. Larsen,David W.; Xu,Zhi, Light scattering detector.
  8. Larsen,David W.; Xu,Zhi, Light scattering detector.
  9. Hammer, Michael R.; Wilson, Philip V.; Williams, Mark R.; Bricker, Dower C.; Masters, Martin K.; Campbell, Stewart R.; Layton, Peter G., Method and apparatus for spectrochemical analysis.
  10. Wildnauer,Kenneth R.; Trutna, Jr.,William Richard, Method and apparatus to improve the dynamic range of optical devices using spatial apodization.
  11. Carlson, William; Hirahara, Edwin; Spencer, Paul Roger, Method and system for three-dimensionally imaging an apical dome of a plant embryo.
  12. Grasdepot, Fran.cedilla.ois, Method for measuring spectral absorption in a body and device therefor.
  13. David E. Aspnes ; Martin Ebert, Method of reducing noise generated by arc lamps in optical systems employing slits.
  14. Marbach, Ralf, Methods and apparatus for improving the long-term stability of spectroscopic quantitative analyses.
  15. Hruska, Curtis R.; Catching, Benjamin F.; Smith, Paula, Optical filter and spectrometer.
  16. Hruska, Curtis R.; Catching, Benjamin F.; Smith, Paula, Optical filter and spectrometer.
  17. Smith, Paula; Hruska, Curtis R.; Catching, Benjamin F.; Coombs, Paul G., Optical filter and spectrometer.
  18. Maczura, Anthony K.; Gross, Erich R.; Lee, Anthony S.; Mayes, David M., Optical probes and methods for spectral analysis.
  19. Von Rosenberg, Charles W., Optical probes and methods for spectral analysis.
  20. Polynkin,Pavel G.; Garrett,Mark H.; Wilde,Jeffrey P., Optical spectral power monitors employing time-division-multiplexing detection schemes.
  21. Haridas,Manoj, Optochemical sensor.
  22. Johs, Blaine D.; Goeden, Christopher A.; Pfeiffer, Galen L., System and method of controlling intensity of an electromagnetic beam.
  23. Larsen,David W.; Xu,Zhi, Ultrasensitive spectrophotometer.
  24. Cohen,Douglas Lent; Crain,David James; Hertel,Richard James, Using a fixed-frequency oscillation in a dispersive spectrometer to measure scene inhomogeneity.
  25. Cohen, Douglas Lent; Crain, David James; Hertel, Richard James, Using a fixed-frequency oscillation to detect and measure scene inhomogeneity.
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