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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0792732 (1997-01-31) |
우선권정보 | JP-0015107 (1996-01-31) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 40 인용 특허 : 1 |
Disclosed is a waveform analyzer, which inputs measured data of an electronic device to be analyzed; generates an orthogonal analyzing wavelet; produces wavelet-analyzed components in which the measured data is wavelet-transformed into a plurality of wavelet spectra by using the orthogonal analyzing
[ What is claimed is:] [1.] A waveform analyzer, comprising:means for inputting measured data of an electronic device to be analyzed;means for generating an orthogonal analyzing wavelet;means for producing wavelet-analyzed components in which said measured data is wavelet-transformed into a pluralit
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