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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0707151 (1996-09-03) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 54 인용 특허 : 10 |
An apparatus and method for measuring parasitic differences between dissimilar conductive paths on a semiconductor is provided. The apparatus provides a ring oscillator which has two propagation paths. The first path is traversed on a logical transition from low to high, and the second path is trave
[ I claim:] [1.] A test apparatus for quantifying parasitics on a microprocessor, the test apparatus comprising:a plurality of first gate stages, said first gate stages having a first portion and a second portion;a plurality of second gate stages, said second gate stages having a first portion and a
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