검색연산자 | 기능 | 검색시 예 |
---|---|---|
() | 우선순위가 가장 높은 연산자 | 예1) (나노 (기계 | machine)) |
공백 | 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (나노 기계) 예2) 나노 장영실 |
| | 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (줄기세포 | 면역) 예2) 줄기세포 | 장영실 |
! | NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 | 예1) (황금 !백금) 예2) !image |
* | 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 | 예) semi* |
"" | 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 | 예) "Transform and Quantization" |
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) | H01L-031/00 H01L-027/295 H01L-029/812 H01L-031/07 |
미국특허분류(USC) | 257/449 ; 257/450 ; 257/475 |
출원번호 | US-0916158 (1997-09-02) |
우선권정보 | JP-0175956 (1994-07-05) |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 | |
대리인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 5 인용 특허 : 0 |
A solid-state infrared sensor using a Schottky barrier diode. The sensor has a first layer of a semiconductor of a first conductivity type and a second layer of a metal or a metal silicide and the first and second layer are joined to each other to form the Schottky barrier diode. Further, the sensor includes a third layer disposed in the depletion layer formed in the first layer out of contact with the Schottky junction interface. The third layer contains an impurity which is introduced for positioning an effective barrier formed in the depletion layer u...
[ What is claimed is:] [1.] A Schottky barrier infrared sensor comprising:a first layer of a first conductivity type;a second layer of one of metal and metal silicide;a guard ring layer of a second conductivity type embedded in said first layer to a predetermined depth and encircling said second layer, said first layer and said second layer being joined to each other at a junction interface for detecting incident infrared radiation,wherein the detecting of the incident infrared radiation is based on the amount of excessive carriers generated in said firs...