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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0657023 (1996-05-31) |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 79 인용 특허 : 0 |
The Invention includes a method and apparatus which analyzes an image of an object to detect and identify defects in the object. The present invention utilizes a scanning technique which converts a 2-D image of the object into a 1-D image, a transformation technique which extracts relevant features
[ What is claimed is:] [1.] An apparatus for analyzing an image to detect and identify defects in an object, said apparatus comprising:at least one image sensor disposed to capture an image of the object;a light source for projecting light onto the object;means for converting the captured image into
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