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Dynamic semiconductor memory device having a precharge circuit using low power consumption 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G11C-007/00
  • G11C-011/24
  • G11C-008/00
출원번호 US-0919240 (1997-08-28)
우선권정보 JP-0308104 (1996-11-19)
발명자 / 주소
  • Tsuchida Kenji,JPX
출원인 / 주소
  • Kabushiki Kaisha Toshiba, JPX
대리인 / 주소
    Banner & Witcoff, Ltd.
인용정보 피인용 횟수 : 24  인용 특허 : 0

초록

There is provided a DRAM using a low electric power consumption characteristic of a VCC/2 precharging method and capable of performing stable and high speed sensing operation even under a low power supply voltage condition. The DRAM has a memory cell array, a plurality of word lines, a plurality of

대표청구항

[ I claim:] [1.] A dynamic semiconductor memory device comprising:a memory cell array having a plurality of dynamic memory cells disposed in a matrix configuration;a plurality of word lines for selecting and operating said memory cells of said memory cell array;a plurality of bit line pairs for supp

이 특허를 인용한 특허 (24)

  1. Kim, Hee Sang, Bitline senseamplifier and semiconductor memory apparatus using the same.
  2. Lee, Seong-Hoon; Na, Onegyun; Kwak, Jongtae, Current mode sense amplifier with load circuit for performance stability.
  3. Lee, Seong-Hoon; Na, Onegyun; Kwak, Jongtae, Current mode sense amplifier with passive load.
  4. Parris, Michael C.; Hardee, Kim C., Dual bit line precharge architecture and method for low power dynamic random access memory (DRAM) integrated circuit devices and devices incorporating embedded DRAM.
  5. Inaba Tsuneo,JPX ; Tsuchida Kenji,JPX ; Okamura Junichi, Dynamic type RAM.
  6. Sakata, Takeshi; Sekiguchi, Tomonori; Fujisawa, Hiroki; Kimura, Katsutaka; Isoda, Masanori; Kajigaya, Kazuhiko, Ferroelectric memory device.
  7. Kurjanowicz, Wlodek; Smith, Steven, High speed OTP sensing scheme.
  8. Nikutta, Wolfgang, Method and circuit configuration for a memory for reducing parasitic coupling capacitances.
  9. Kirsch, Howard C., Method and system for accelerating coupling of digital signals.
  10. Kurjanowicz, Wlodek; Smith, Steven, Methods for testing unprogrammed OTP memory.
  11. DeBrosse John K., Reduced bit line equalization level sensing scheme.
  12. Taira Takashi,JPX ; Imai Kimimasa,JPX, Semiconductor device.
  13. Ito, Hiroshi, Semiconductor memory.
  14. Aoki,Mamoru, Semiconductor memory device and method of testing the same.
  15. Kitamoto Ayako,JPX ; Matsumiya Masato,JPX, Semiconductor memory device having a precharge device.
  16. Mitoma,Tetsuya, Semiconductor memory device having a word line drive circuit and a dummy word line drive circuit.
  17. Tsukikawa Yasuhiko,JPX, Semiconductor memory device having test mode.
  18. Hirota, Takuya, Semiconductor memory device improving data read-out access.
  19. Kim Moo Suk,KRX, Sense amplifier driving device.
  20. Lee, Seong-Hoon, Sense amplifier having loop gain control.
  21. Lee, Seong-Hoon, Sense amplifier having loop gain control.
  22. Russell J. Houghton ; Christopher P. Miller, Sense amplifier with overdrive and regulated bitline voltage.
  23. Lee, Seong-Hoon, Sense amplifiers including bias circuits.
  24. Brown Jeff S., Technique for reducing peak current in memory operation.
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