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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0811602 (1997-03-04) |
우선권정보 | JP-0150990 (1996-06-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 69 인용 특허 : 9 |
An electron beam exposure apparatus which minimizes the influence of the space charge effect and aberrations of a reduction electron optical system, and simultaneously, increases the exposure area which can be exposed at once, thereby increasing the throughput. An electron beam exposure apparatus ha
[ What is claimed is:] [1.] An electron beam exposure apparatus having a source for emitting electron beams and a reduction electron optical system for reducing and projecting, on a target exposure surface, an image formed with the electron beam emitted from said source, comprising:a correction elec
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