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Integrated comparator circuit

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H03K-051/53
출원번호 US-0679251 (1996-07-12)
우선권정보 DE-0025427 (1995-07-12)
발명자 / 주소
  • Tihanyi Jenoe,DEX
출원인 / 주소
  • Siemens Aktiengesellschaft, DEX
대리인 / 주소
    Lerner
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 4

초록

An integrated comparator circuit includes a first terminal and a second terminal for an operating voltage. An input stage has two complementary MOSFETS having main current paths connected in series defining a common connecting point therebetween. The two MOSFETS have gate terminals connected to the

대표청구항

[ I claim:] [1.] An integrated comparator circuit comprising:(a) a first terminal and a second terminal for an operating voltage, said second terminal receiving a positive voltage potential, said first terminal receiving a reference potential lower than said positive voltage potential received by sa

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Bae Myung-Ho (Suwon KRX), Chip initialization signal generating circuit.
  2. Takahashi Norio (Tokyo JPX), Electronic watch.
  3. Fong Vincent L. (Fremont CA), High-speed current sense amplifier.
  4. Leipold Ludwig (Munich DEX) Sander Rainald (Munich DEX) Tihanyi Jenoe (Munich DEX), Integrated comparator circuit.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Nakahara, Akihiro, Comparator circuit.
  2. Nakahara, Akihiro, Comparator circuit.
  3. Nakahara, Akihiro, Comparator circuit.
  4. Victor Yertoprakhov RU, Distance measurement apparatus.
  5. C. Patrick Doherty ; Jorge L. deVarona ; Salman Akram, Interconnect and system for testing bumped semiconductor components with on-board multiplex circuitry for expanding tester resources.
  6. Floyd Brian H., Low level input voltage comparator.
  7. Nakahara, Akihiro, Power supply control apparatus including overcurrent detection circuit.
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