[특허]Apparatus for testing signal timing and programming delay

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Apparatus for testing signal timing and programming delay 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01R-031/28 G11C-029/00
출원번호	US-0647222 (1996-05-09)
발명자 / 주소	McClure David Charles
출원인 / 주소	STMicroelectronics, Inc.
대리인 / 주소	Galanthay
인용정보	피인용 횟수 : 14 인용 특허 : 0

초록 ▼

A method and apparatus for testing and programming signal timing are disclosed which can be incorporated into an integrated circuit device utilizing on-chip timed command signals and pulses. The method of the invention enables nonpermanent testing and retesting of a device at various operational speeds during production testing. During retesting, temporary signal delays are selectively introduced into the circuit of a device which failed a previous test due to non-repairable errors. Once a device passes the production test error-free or with repairable errors, the temporary signal delays are permanently programmed into the device. Specifically, the method utilizes one or a plurality of mode control circuits and test voltage input terminals to nonpermanently select signal delays which may be identified and permanently enabled at a later time.

대표청구항 ▼

[ I claim:] [1.] A system for testing and programming signal timing in a device, comprising:a programmable delay circuit;a mode control circuit means for generating a mode enable signal responsive to receipt of a test voltage, said mode enable signal controlling said programmable delay circuit; anda

이 특허를 인용한 특허 (14)

Dean Gans ; Eric J. Stave ; Joseph Thomas Pawlowski, Adjustable I/O timing from externally applied voltage.
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Marr, Kenneth W.; Batra, Shubneesh, Antifuse structure and method of use.
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Damon, Tim; Byrd, Phillip E., Apparatus and method for testing fuses.
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Tim Damon ; Phillip E. Byrd, Apparatus and method for testing fuses.
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Tim Damon ; Phillip E. Byrd, Apparatus and method for testing fuses.
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Tae-hyun Kim KR; Kye-hyun Kyung KR; Kyu-han Han KR; Dong-hak Seen KR, Chip information output circuit.
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Douglas A. Guddat ; Glenn F. King ; Tim Lambert ; Navin Saxena ; Peter J. DesRosier, Method and apparatus for software controlled timing of embedded memory.
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Gans Dean, Method and apparatus for testing SRAM memory cells.
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Gans, Dean, Method and apparatus for testing SRAM memory cells.
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Huisman Leendert Marinus ; Knebel Daniel Ray ; Nigh Phillip J ; Sanda Pia Naoko ; Xiao Xiaodong, Method for identifying long paths in integrated circuits.
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Lejeune, Philippe, Method for the testing of electronic components.
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Jue, Darren S.; Gupta, Ashish, Programmable delay elements for source synchronous link function design verification through simulation.
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Fagan, John L.; Bossard, Mark, Selectable delay pulse generator.
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특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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