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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0825222 (1997-03-19) |
우선권정보 | KR-0044624 (1996-10-08) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 4 |
A sensing device, for installation in a wafer probe tester for sorting wafers according to the quality thereof, includes a main body for mounting on the wafer probe tester, an upper member and a lower member extending from the main body to define an open area therebetween for insertion of any one of
[ What I claim is:] [1.] A sensing device for use in discriminating wafers said device comprising:a main body;an upper member and a lower member extending from said main body and spaced apart to define an open area sized to receive any one of different sized wafers inserted between said members;a pl
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