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System for the measurement of the cut length of moving articles 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/04
출원번호 US-0800837 (1997-02-14)
발명자 / 주소
  • Harris David E.
  • Wagstaff
  • Jr. Edwin B.
  • Abnett Kevin C.
출원인 / 주소
  • Harris Instrument Corporation
대리인 / 주소
    Standley & Gilcrest
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 29

초록

A system and process are described in which moving articles that are cut during a manufacturing process have their cut length measured with the use of an electronic light emitting scanner in combination with a light receiver. Accurate cut length measurements are obtained from mathematical processing

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A measurement system for measuring the length of a material workpiece traveling in a direction, comprising:a first array of discrete electromagnetic radiation emitting devices, said first array located a distance from a surface of said material workpiece, said first array

이 특허에 인용된 특허 (29)

  1. Harris David E. (Powell OH), Apparatus and method for binocular measurement system.
  2. Igaki, Seigo; Nakakuki, Tadao; Inagaki, Takefumi; Oikawa, Shuetsu; Fujimura, Takashi, Apparatus for detecting edge of semitransparent plane substance.
  3. Curl, Barry J., Apparatus for determining with high resolution the position of edges of a web.
  4. Forbes James A. (P.O. Box 854 Doylestown PA 18901), Apparatus for optically scanning an object.
  5. Fasching George E. (Morgantown WV), Automatic control and detector for three-terminal resistance measurement.
  6. DeMenthon Daniel F. (Columbia MD), Computer vision system for position monitoring in three dimensions using non-coplanar light sources attached to a monito.
  7. Blaser Peter T. (Dielheim DEX), Device for detecting the edge location of an object.
  8. Merilainen ; Heikki ; Strom ; Ulf J. G., Device for measuring the width of timber.
  9. Telle Harald (Braunschweig DEX), Device for non-contact measurement of speed, displacement travel and/or distance.
  10. Keen Harry J. (St. Johnsbury VT) Dunne Mike (Peacham VT), Dimension-measuring apparatus.
  11. Loose Peter W. (Chelmsford GB2), Edge detection apparatus.
  12. Bolza-Schnemann Claus A. (Wrzburg DEX), Edge location measuring head.
  13. Holmes ; Jones F. (Portland OR) Jacob Ralph L. (Aloha OR), Electro-optical scanning system with self-adaptive scanning capability.
  14. Tournois Pierre (Paris FRX), Imaging system with multiple, simultaneous transmissions.
  15. Ahlquist ; Gary W. ; Milley ; Michael K., Length measurement apparatus for continuously advancing articles.
  16. Nishiyama Keizo (Yokohama JPX), Measuring apparatus.
  17. Chen Wen-Hsien (Ta-hsi NY TWX) Lean Eric G. (Chappaqua NY 4), Method and apparatus for acoustic scanning using bulk wave scattering of bulk waves by an acoustic grating.
  18. Harris David E. (Powell OH), Method and apparatus for edge detection and location.
  19. Gardner Deane (Cupertino CA) Fellingham George (San Jose CA), Method and apparatus for precisely positioning and stabilizing a continuous belt or web or the like.
  20. Fujita Hiroo (Tanashi JPX), Micro-dimensional measurement apparatus.
  21. Kuwabara Yoshiharu (Kanagawa JPX) Takayama Yasuharu (Kanagawa JPX) Hamada Hiroyoshi (Kanagawa JPX), Optical measuring device.
  22. Kuwabara Yoshiharu (Kanagawa JPX) Hamada Hiroyoshi (Kanagawa JPX) Kuwata Masayuki (Kanagawa JPX), Optical measuring device with position indicator.
  23. King Charles (Elmira NY), Optical measuring system.
  24. Sadamitsu Nishihara (Tokyo JPX) Yuji Kawahara (Saitama JPX), Optical measuring system.
  25. Hanna James L. (Ann Arbor MI), Optical part inspection system.
  26. Bjorkelund, Mats, Photoelectric dimension measuring system.
  27. Kespohl Peter (Konigstein DEX), Sensor for strip of conductive material.
  28. Markis William R. (Rochester NY), System for measuring the dimensions of a workpiece.
  29. Norton-Wayne Leonard (London GB2), Workpiece identification apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Harris David E. ; Wagstaff ; Jr. Edwin B. ; Abnett Kevin C., System for the measurement of the cut length of moving articles.
  2. Harris David E. ; Wagstaff ; Jr. Edwin B. ; Abnett Kevin C., System for the measurement of the cut length of moving articles.
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