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Position detector for chip mounter 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/00
출원번호 US-0812735 (1997-03-06)
우선권정보 JP-0301723 (1996-03-11)
발명자 / 주소
  • Aoshima Yasuaki,JPX
출원인 / 주소
  • Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha, JPX
대리인 / 주소
    Knobbe, Martens, Olson & Bear LLP
인용정보 피인용 횟수 : 20  인용 특허 : 5

초록

A method and apparatus for accurately determining the location of a component picked up by a pickup device for facilitating accurate mounting of the component. The method employs an arrangement wherein diffusion-type light sources can be employed and the coordinates of the corners of the component a

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A method for optically determining the position of a component picked up by a pickup device comprising the step of positioning the pickup device and a held component in a sensing station between a light receptor and a diffusion-type light source spaced at a known transver

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Deley Michael T. (Warrington PA) Phillips Edwin R. (Rosemont PA), Apparatus and method for determining the position of a component prior to placement.
  2. Igaki, Seigo; Nakakuki, Tadao; Inagaki, Takefumi; Oikawa, Shuetsu; Fujimura, Takashi, Apparatus for detecting edge of semitransparent plane substance.
  3. Indo Kenichi (Iwata JPX) Onodera Hitoshi (Iwata JPX), Attracting nozzle control apparatus for a chip component mounting machine.
  4. Rebec Mohammed S. (Bristol IN) Rebec Mihailo V. (Bristol IN), High speed teleconference system.
  5. Onodera Hitoshi (Iwata JPX) Sakurai Hiroshi (Iwata JPX), Method for mounting components and apparatus therefor.

이 특허를 인용한 특허 (20)

  1. Duquette, David W., Angle rejection filter.
  2. Onishi, Tadashi, Attraction state inspection device, surface mounting apparatus, and part test device.
  3. Haugen, Paul R.; Fishbaine, David; Rudd, Eric P.; Kranz, David M.; Haugen, Carl E.; Reinhardt, Adam, Automated system with improved height sensing.
  4. Case,Steven K., Component feeder exchange diagnostic tool.
  5. Case,Steven K., Component feeder exchange diagnostic tool.
  6. Takahira, Isao; Inoue, Tomohiro; Ikeda, Hiroshi; Asai, Jun, Component mounting apparatus.
  7. Rudd, Eric P.; Konicek, John P.; Gaida, John D., Component sensor for pick and place machine using improved shadow imaging.
  8. Kodama, Seigo; Okada, Yasushi, Edge detecting apparatus having a control device which selectively operates the light emitting elements.
  9. Ding, Kexiang Ken; Do, Chris; Frandsen, James, IC device-in-pocket detection with angular mounted lasers and a camera.
  10. Duquette, David W.; Rudd, Eric P.; Bushman, Thomas W.; Manickam, Swaminathan; Skunes, Timothy A.; Case, Steven K., Image analysis for pick and place machines with in situ component placement inspection.
  11. Hoshikawa, Kazumi, Image taking system and electronic-circuit-component mounting machine.
  12. Duquette, David W.; Cash, II, Frederick M.; Case, Steven K.; Konicek, John P.; Volkman, Thomas L., Laser align sensor with sequencing light sources.
  13. Kranz, David M.; Duquette, David W.; Dawson, Matthew W., Method for measuring center of rotation of a nozzle of a pick and place machine using a collimated laser beam.
  14. Case, Steven K., Method of validating component feeder exchanges.
  15. Madsen, David D.; Kranz, David M.; Cash, II, Frederick M., Multiple source alignment sensor with improved optics.
  16. Duquette,David W.; Haugen,Paul R.; Fishbaine,David; Gaida,John D.; Madsen,David D.; Dale,Theodore Paul; Liberty,Todd D.; Buchika,Brant O.; Roth,Scott D.; Bushman,Thomas W., Pick and place machine with component placement inspection.
  17. Manickam, Swaminathan; Konicek, John P.; Duquette, David W.; Case, Steven K., Pick and place machine with improved component pick image processing.
  18. Bushman, Thomas W.; Madsen, David D.; Haugen, Paul R.; Case, Steven K.; Gaida, John D.; Madsen, M. Hope, Pick and place machine with workpiece motion inspection.
  19. Eric P. Rudd ; Steven K. Case, Tomographic reconstruction of electronic components from shadow image sensor data.
  20. Rudd, Eric P.; Case, Steven K., Tomographic reconstruction of electronic components from shadow image sensor data.
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