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Probe secondary seal 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01D-021/00
출원번호 US-0955270 (1997-10-21)
발명자 / 주소
  • Queyquep Cesar L.
출원인 / 주소
  • Magnetrol International Inc.
대리인 / 주소
    Wood, Phillips, VanSanten, Clark & Mortimer
인용정보 피인용 횟수 : 10  인용 특허 : 14

초록

A secondary seal assembly is used with a process instrument including a probe assembly and an electric housing assembly. The probe assembly includes an adaptor receivable in an opening of a process vessel, a probe extending through the adaptor into the process vessel, and a primary seal between the

대표청구항

[ I claim:] [1.] A secondary seal assembly for use with a process instrument and adapted to be disposed between a probe assembly, that is normally mechanically connected to an electric housing assembly, and the housing assembly, the probe assembly including an adaptor receivable in an opening of a p

이 특허에 인용된 특허 (14)

  1. Asmundsson Einar (Middle Haddam CT), Capacitance probe for liquid level measuring system.
  2. Ishikawa Yoichi (Tokyo JPX), Detection of the surface of a liquid or foam including moisture inhibiting.
  3. Lang Hugo (Pfeffingen CHX) Alznauer Miroslaw (Wies DEX), Device for the electrically insulated attachment of a metallic probe electrode in the opening of a housing.
  4. Mayer Peter (Burlington CA) Murthy M. Krishna (Toronto CA) Brooks Albert H. (Agincourt CA) Topping John A. (Oakville CA), Glass seal.
  5. Paterek F. Dieter (Cincinnati OH), Hermetic assembly arrangement for a current conducting pin passing through a housing wall.
  6. Goellner Allan R. (Parma Heights OH), High pressure electrical conductivity probe.
  7. Beaman Norman V. (La Habra CA), Instrument probe assembly having continuous probe insulation.
  8. Hansen ; III Charles C. (Hinsdale IL) Yencho John A. (Elmhurst IL) Barbier William J. (Hazelwood MO) Knapp Curtis H. (Aurora IL) Kuhn ; Jr. Orval J. (Warrenville IL), Liquid level control system for refrigeration apparatus.
  9. Cost Evan (Philadelphia PA), Material level probe having crimp seal.
  10. Catheline Marc (Chatillon Sous Bagneux FRX) Dody Jean-Nol (Plaisir FRX) Maquaire Jean-Pierre (Louveciennes FRX), Method for brazing an element transversely to a wall, a brazed-joint assembly for carrying out said method, and a packag.
  11. Fleckenstein Phillip P. (Port Huron MI), Method of manufacturing capacitance-type material level indicator probe.
  12. Fller Werner (Stuhr DEX) Willenbrock Helmut (Achim DEX) Behnken Wolfgang (Delmenhorst DEX), Probe for monitoring liquid.
  13. Borchers Kerstin (Bremen DEX) Politt Joachim-Christian (Bremen DEX) Schroter Holger (Achim DEX), Probe for monitoring liquid with protection against leakage.
  14. Beaman Norman Vane (La Habra CA), Seal for an instrument probe assembly.

이 특허를 인용한 특허 (10)

  1. Lenormand, Roland; Chaput, Christophe, Capacitive probe for measuring the level of an electricity-conducting liquid in a vessel and method of manufacturing such a probe.
  2. Dietmeier,Juergen, Coaxial gapless guide-through assembly for a filing level sensor.
  3. Schroth, Herbert; Wendler, Armin, Filling level measuring device.
  4. Soroka Valery, High temperature high pressure probe seal.
  5. Chamberlin,Edward R., Liquid level sensor having a virtual ring.
  6. Hewelt Scott M. ; Torzewski Michael C. ; Marsh Norman F., Material level sensing.
  7. DiRienzo, Jr., Jules Joseph; Hafer, Kevin G.; Naghski, John Emiljan; Hopkins, Travis Darrell, Measurement systems having seals with pressure relief.
  8. Renk,Peter; Klotz Engmann,Gerold; H체gel,Michael, Safety module and measuring arrangement with safety module.
  9. Gravel,James L.; Fandrey,Mark C., Tank seal for guided wave radar level measurement.
  10. Hausler, George Charles; McCoy, Steven John; Eriksen, Christopher Lee; Cota, Jeffrey Alan, Terminal block with sealed interconnect system.
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