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Semiconductor integrated circuit device having burn-in test capability and method for using the same

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G05F-001/10
출원번호 US-0906143 (1997-08-05)
우선권정보 JP-0049498 (1994-03-18)
발명자 / 주소
  • Kawasaki Kenichi,JPX
  • Ogawa Junji,JPX
출원인 / 주소
  • Fujitsu Limited, JPX
대리인 / 주소
    Armstrong, Westerman, Hattori, McLeland & Naughton
인용정보 피인용 횟수 : 25  인용 특허 : 12

초록

A semiconductor integrated circuit device includes a flat-range voltage supply unit which steps down an external power supply voltage and generates a resultant, flat-range voltage, and a burn-in voltage supply unit which generates a burn-in voltage depending on the external power supply voltage. A s

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A semiconductor integrated circuit device comprising:a flat-range voltage supply unit which steps down an external power supply voltage and generates a resultant, flat-range voltage;a burn-in voltage supply unit which generates a burn-in voltage depending on the external

이 특허에 인용된 특허 (12)

  1. Suwa Makoto (Hyogo JPX) Miyamoto Hiroshi (Hyogo JPX) Mori Shigeru (Hyogo JPX), Circuit for applying selected voltages to dynamic random access memory.
  2. Park Yong-Bo (Kyungki KRX) Kim Byeong-Yun (Seoul KRX) Lim Hyung-Kyu (Seoul KRX), Electrically programmable internal power voltage generating circuit.
  3. Bodas Milind A. (Sunnyvale CA), Fast exclusive-or and exclusive-nor gates.
  4. Iyengar Narasimhan (Plano TX), Integrated circuit with improved on-chip power supply control.
  5. Edwards Colin R. (Mangotsfield GB2), Inverters and logic gates employing inverters.
  6. Yamada Toyonobu (Kawasaki JPX), Method for testing semiconductor integrated circuit device, voltage drop power supply circuit suitable for the method, a.
  7. Kaplinsky Cecil H. (Palo Alto CA), Programmable logic device with programmable inverters at input/output pads.
  8. Kajigaya Kazuhiko (Iruma JPX) Udagawa Tetsu (Iruma JPX) Ishii Kyoko (Tokyo JPX) Tsunozaki Manabu (Ohme JPX) Oshima Kazuyoshi (Ohme JPX) Horiguchi Masashi (Kawasaki JPX) Etoh Jun (Hachioji JPX) Aoki M, Semiconductor IC device having a voltage conversion circuit which generates an internal supply voltage having value comp.
  9. Koshikawa Yasuji (Tokyo JPX), Semiconductor integrated circuit device having low power consumption voltage monitoring circuit for built-in step-down v.
  10. Hayakawa Shigeyuki (Yokohama JPX) Yanagisawa Leiichi (Kawasaki JPX), Semiconductor integrated circuit having a voltage stepdown mechanism.
  11. Murotani Tatsunori (Tokyo JPX), Semiconductor memory.
  12. Edwards Colin R. (Mangotsfield GB2), Unidirectional signal paths.

이 특허를 인용한 특허 (25)

  1. Sander, Rainald, Circuit configuration for detecting the current in a load transistor.
  2. Ajit,Janardhanan S.; Vasiliu,Laurentiu, Hot carrier injection suppression circuit.
  3. Ajit, Janardhanan S., I/O circuit using low voltage transistors which can tolerate high voltages even when power supplies are powered off.
  4. Ajit,Janardhanan S., I/O circuit using low voltage transistors which can tolerate high voltages even when power supplies are powered off.
  5. Xiong, Jiang; Huang, Hongwei, Integrated circuit.
  6. Haetty,Jens, Internal reference voltage generation for integrated circuit testing.
  7. Chang,Chien Yi, Low power reference voltage circuit.
  8. Christopher R. Morton, Programmable circuit with preview function.
  9. Morton Christopher R., Programmable circuit with preview function.
  10. Oh Young Nam,KRX, Redundant circuit for semiconductor device having a controllable high voltage generator.
  11. Yoshida, Kenji, Semiconductor device having fuse circuit and control method thereof.
  12. Moriguchi, Koji; Takahashi, Toshio, Semiconductor integrated circuit having normal mode and self-refresh mode.
  13. Norbert Wirth DE; Eric Cordes DE; Zoltan Manyoki DE; Dominique Savignac DE, Semiconductor module for burn-in test configuration.
  14. Ajit, Janardhanan S., Sub-micron high input voltage tolerant input output (I/O) circuit.
  15. Ajit, Janardhanan S., Sub-micron high input voltage tolerant input output (I/O) circuit.
  16. Ajit, Janardhanan S., Sub-micron high input voltage tolerant input output (I/O) circuit.
  17. Ajit, Janardhanan S., Sub-micron high input voltage tolerant input output (I/O) circuit.
  18. Ajit, Janardhanan S., Sub-micron high input voltage tolerant input output (I/O) circuit.
  19. Ajit,Janardhanan S., Sub-micron high input voltage tolerant input output (I/O) circuit.
  20. Ajit,Janardhanan S., Sub-micron high input voltage tolerant input output (I/O) circuit.
  21. Ajit, Janardhanan S., Sub-micron high input voltage tolerant input output (I/O) circuit which accommodates large power supply variations.
  22. Ajit,Janardhanan S., Sub-micron high input voltage tolerant input output (I/O) circuit which accommodates large power supply variations.
  23. Oh Seung-cheol,KRX, Voltage boosting power supply circuit of memory integrated circuit and method for controlling charge amount of voltage boosting power supply.
  24. Salter Eric Johan ; Nahas Joseph John ; Martino ; Jr. William Luther, Voltage regulator with automatic accelerated aging circuit.
  25. Katsumata, Maomi, Voltage switching circuit and power supply device with regulator.
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