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Temperature detecting using a forward voltage drop across a diode 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01K-007/00
출원번호 US-0927182 (1997-09-11)
우선권정보 JP-0242219 (1996-09-12)
발명자 / 주소
  • Nagata Junichi,JPX
  • Hayakawa Junji,JPX
  • Ban Hiroyuki,JPX
출원인 / 주소
  • Denso Corporation, JPX
대리인 / 주소
    Pillsbury Madison & Sutro LLP
인용정보 피인용 횟수 : 22  인용 특허 : 7

초록

A temperature detecting circuit detects the rise of ambient temperature, using a forward voltage drop across a diode. The temperature detecting circuit comprises a temperature detecting diode whose cathode is grounded, a first constant current supply device connected with the anode of the temperatur

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A temperature detecting circuit for detecting the rise and ambient temperature by making use of forward voltage drop produced across a diode, said temperature-detecting circuit comprising:a first constant current supply device connected in series with said diode, for supp

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Nishiura Masaharu (Kawasaki JPX) Fujihira Tatsuhiko (Kawasaki JPX), Overheating detection circuit for detecting overheating of a power device.
  2. Nishiura Masaharu (Kawasaki JPX) Fujihira Tatsuhiko (Kawasaki JPX), Overheating detection circuit for detecting overheating of a power device.
  3. Yamauchi Yukio (Kawasaki JPX), Temperature detecting apparatus.
  4. Namiki Masayuki (Tokyo JPX) Kamiya Masaaki (Tokyo JPX) Kojima Yoshikazu (Tokyo JPX) Tanaka Kojiro (Tokyo JPX), Temperature detecting device.
  5. Takahashi Mitsuasa,JPX, Temperature detection method and circuit using MOSFET.
  6. Armstrong Desmond R. (Wallington GB2) Hughes John B. (Hove GB2), Temperature sensing circuit.
  7. Dobkin ; Robert C., Temperature sensor.

이 특허를 인용한 특허 (22)

  1. Vollertsen, Rolf-Peter, Apparatus and method for measuring local surface temperature of semiconductor device.
  2. Bisping, Michael; Jabs, Hermann; Marschner, Juergen, Arrangement for measuring the temperature of an electronic circuit.
  3. Hadwen, Benjamin James; Hector, Jason Roderick; Jacobs, Adrian Marc Simon; Coulson, Michael Paul, Array element for temperature sensor array circuit, temperature sensor array circuit utilizing such array element, and AM-EWOD device including such a temperature sensor array circuit.
  4. Thiele, Steffen, Circuit arrangement for overtemperature detection.
  5. Kang,Hee Bok; Ahn,Jin Hong, Data input buffer in semiconductor device.
  6. Beer, Peter; Dobler, Manfred; Krause, Gunnar, Method for determining the temperature of a semiconductor chip and semiconductor chip with temperature measuring configuration.
  7. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  8. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
  9. Yamamoto,Tomohisa, Overtemperature detection device and semiconductor integrated circuit device.
  10. Fukuda, Yutaka; Okuda, Ryoichi; Makino, Tomoatsu; Yagi, Kenji; Tsuzuki, Yukio, Semiconductor switching element driving circuit.
  11. Breinlinger, Richard H., Solid state temperature measuring device and method.
  12. Breinlinger,Richard H., Solid state temperature measuring device and method.
  13. Mikuni, Takeshi; Tamagawa, Akio, Temperature detection circuit.
  14. Mikuni,Takeshi; Tamagawa,Akio, Temperature detection circuit.
  15. Tesi,Davide, Temperature detector.
  16. Yoshimura, Hiroyuki, Temperature measuring device of a power semiconductor apparatus.
  17. Gartner Manuel,DEX ; Hertrich Helmut,DEX, Temperature sensor.
  18. Rider, Scott; LeClerg, Frank E., Thermal memory control.
  19. Hsu, Pochang; Mishra, Animesh; Shi, Jun, Throttling memory in a computer system.
  20. Hsu, Pochang; Mishra, Animesh; Shi, Jun, Throttling memory in a computer system.
  21. Hsu, Pochang; Mishra, Animesh; Shi, Jun, Throttling memory in response to an internal temperature of a memory device.
  22. Anzai, Ryoichi, Two-terminal semiconductor sensor device.
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