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Methods for preparing photoresist compositions

국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G03F-070/04
출원번호 US-0961112 (1997-10-30)
발명자 / 주소
  • Sinta Roger F.
  • Kumar Uday
  • Orsula George W.
  • Fahey James I. T.
  • Brunsvold William R.
  • Huang Wu-Song
  • Katnani Ahmad D.
  • Nunes Ronald W.
  • Khojasteh Mahmoud M.
출원인 / 주소
  • Shipley Company, L.L.C. of Marlborough
대리인 / 주소
    Frickey
인용정보 피인용 횟수 : 18  인용 특허 : 5

초록

Methods are provided to prepare photoresists without isolation of various components, i.e. in a "one-pot" procedure. Preferred one-pot preparation methods of the invention include preparing a photoresist resin binder in a selected photoresist solvent and, without isolation of the resin binder from t

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A method for preparation of a photoresist composition comprising:(a) preparing a photoresist resin binder in a selected photoresist solvent which comprises reacting a phenolic polymer with a compound that forms a covalent linkage to hydroxyl groups of the resin, and(b) wi

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Zampini Anthony (Westborough MA), Aromatic novolak resins and blends.
  2. Kokubo Tadayoshi (Shizuoka JPX) Uenishi Kazuya (Shizuoka JPX) Tan Shiro (Shizuoka JPX) Ishii Wataru (Shizuoka JPX), Micropattern-forming material having a low molecular weight novolak resin, a quinone diazide sulfonyl ester and a solven.
  3. Uetani Yasunori (Toyonaka JPX) Tomioka Jun (Takarazuka JPX) Nakanishi Hirotoshi (Osaka JPX), Positive resist composition.
  4. Uenishi Kazuya (Shizuoka JPX) Kawabe Yasumasa (Shizuoka JPX) Kokubo Tadayoshi (Shizuoka JPX), Positive type photoresist composition comprising polyaromatic hydroxy quinone diazide esters as the photosensitive ingre.
  5. Uetani Yasunori (Minoo JPX) Hanabata Makoto (Hyogo JPX) Nakanishi Hirotoshi (Osaka JPX) Kuwana Koji (Fujiidera JPX) Oi Fumio (Ashiya JPX), Resist composition comprising a quinone diazide sulfonic diester and a quinone diazide sulfonic complete ester.

이 특허를 인용한 특허 (18)

  1. Huang,Wu Song S.; Medeiros,David R.; Wallraff,Gregory Michael, Advanced chemically amplified resist for sub 30 nm dense feature resolution.
  2. Sheehan, Michael T.; Sounik, James R., Anhydrous, liquid phase process for preparing hydroxyl containing polymers of enhanced purity.
  3. Marie Angelopoulos ; Ari Aviram ; C. Richard Guarnieri ; Wu-Song Huang ; Ranee Kwong ; Wayne M. Moreau, Antireflective silicon-containing compositions as hardmask layer.
  4. Allen, Robert David; Brock, Phillip Joe; DiPietro, Richard Anthony; Sooriyakumaran, Ratnam; Truong, Hoa D., Low activation energy dissolution modification agents for photoresist applications.
  5. Allen,Robert David; Brock,Phillip Joe; DiPietro,Richard Anthony; Sooriyakumaran,Ratnam; Truong,Hoa D., Low activation energy dissolution modification agents for photoresist applications.
  6. Allen,Robert David; Breyta,Gregory; Brock,Phillip Joe; DiPietro,Richard Anthony; Sooriyakumaran,Ratnam; Truong,Hoa D.; Wallraff,Gregory Michael, Low activation energy photoresists.
  7. Allen, Robert David; Breyta, Gregory; Brock, Phillip Joe; DiPietro, Richard Anthony; Sooriyakumaran, Ratnam; Truong, Hoa D.; Wallraff, Gregory Michael, Method for patterning a low activation energy photoresist.
  8. Tsurugi, Kou; Inoue, Yoshihisa; Hara, Isao; Watanabe, Hiroyoshi; Hakamata, Tomoyoshi; Nomoto, Akira; Nakamura, Osamu, Method for producing unsaturated carboxylic acid-modified vinyl alcohol polymer, and gas barrier film or gas barrier laminate using the same.
  9. Carey,Richard J.; Trefonas, III,Peter; Kaufman,Michael J., Photoresist and organic antireflective coating compositions.
  10. Breyta, Gregory; Dawson, Daniel Joseph; Larson, Carl E.; Wallraff, Gregory Michael, Photoresists for visible light imaging.
  11. Breyta,Gregory; Dawson,Daniel Joseph; Larson,Carl E.; Wallraff,Gregory Michael, Photoresists for visible light imaging.
  12. Sheehan, Michael T.; Sounik, James R., Preparation of homo-, co- and terpolymers of substituted styrenes.
  13. Medeiros,David R.; Huang,Wu Song; Wallraff,Gregory M.; Hinsberg,Bill; Houle,Frances, Process for forming features of 50 nm or less half-pitch with chemically amplified resist imaging.
  14. Okazaki Hiroshi,JPX ; Pawlowski Georg,JPX ; Funato Satoru,JPX ; Kinoshita Yoshiaki,JPX ; Yamaguchi Yuko,JPX, Process for preparing resists.
  15. Okazaki, Hiroshi; Pawlowski, Georg; Funato, Satoru; Kinoshita, Yoshiaki; Yamaguchi, Yuko, Process for preparing resists.
  16. Sheehan, Michael T., Purification means.
  17. Sheehan, Michael T., Purification means.
  18. Huang, Wu-Song; Medeiros, David R., Resist compositions comprising silyl ketals and methods of use thereof.
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