[특허]Illumination/viewing system for features in transparent materials

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Illumination/viewing system for features in transparent materials 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G02B-021/06
출원번호	US-0808928 (1997-02-28)
발명자 / 주소	Cobb Joshua Monroe Florence Jr. Robert Francis Topolovec Franz X. Ziemins Uldis Artis
출원인 / 주소	International Business Machines Corporation
대리인 / 주소	Ratner & Prestia
인용정보	피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 4

초록 ▼

Method and apparatus for illuminating a transparent material for identifying individual features in the material having similar refractive indices, without using a phase-contrast microscope, by illuminating the material by light directed at an angle to a reflective surface which directs the light th

대표청구항 ▼

[ What is claimed:] [1.] A system for illuminating a transparent material to identify features in the transparent material having similar refractive indices, comprising in combination:a mirror disposed beneath and proximate to said material, said material and said mirror positioned perpendicular to an axis perpendicular to a face of an objective lens used to view features in said material; andlight source positioned at an acute angle to said axis to direct light at said mirror to, by reflection from said mirror, illuminate an area of said material to be viewed, said light being directed outside a field of view of said objective lens through the transparent material to said mirror, said light entering said transparent material at an acute angle on a surface of said material positioned facing said objective lens, and reflected back through said transparent material at an acute angle to said axis whereby said transparent material is indirectly illuminated for viewing.

이 특허에 인용된 특허 (4)

Sattler Hans-Eberhard (Oderstrasse 63 ; D-5300 Bonn 1 DEX), Apparatus for examining gemstones and the like.
상세보기
Ellis, Gordon W.; Ichie, Koji, Confocal laser scanning transmission microscope.
상세보기
Colliaux Daniel (Courbevoie FRX), Electron probe microanalyzer comprising an observation system having double magnification.
상세보기
Stone William J. (Kansas City MO), Front lighted optical tooling method and apparatus.
상세보기

이 특허를 인용한 특허 (1)

Wolleschensky, Ralf, Laser scanning microscope with illumination perpendicular to the optical axis.
상세보기

관련 콘텐츠

특허 원문 보기

KIPRIS 원문보기

IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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내보내기 구분	파일저장 인쇄 메일전송
구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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