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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0849275 (1997-12-05) |
국제출원번호 | PCT/US96/15260 (1996-09-24) |
§371/§102 date | 19971205 (19971205) |
국제공개번호 | WO-9712228 (1997-04-03) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 236 인용 특허 : 19 |
An X-ray inspection device (10) for detecting a specific material of interest in items of various sizes and shapes (24A, 24B, 24C) includes an X-ray source system located at an inspection region and constructed to expose the examined item to at least one beam of X-ray radiation, and one or more X-ra
[ We claim:] [1.] An X-ray inspection device for detecting a specific material of interest in items of baggage or packages, comprising:a conveyor constructed and arranged to move items of baggage or packages to an inspection region;an X-ray source system located at said inspection region and constru
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