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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0040045 (1998-03-17) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 30 인용 특허 : 10 |
A system and method of measurement of emissivity and radiance of a wafer in a rapid thermal processing chamber enables determination of wafer temperature and control of temperature of the wafer. Mirrors enclose the chamber and reflect radiation from lamps within the chamber to heat the workpiece of
[ What is claimed is:] [1.] A system for measuring thermal characteristics of a radiant object, the thermal characteristics including radiance of the radiant object, comprising:a detector of radiant energy emitted by said object, said detector being positioned for receipt of radiant energy propagati
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