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Substrate potential generation circuit that can suppress variation of output voltage with respect to change in external power supply voltage and environment temperature 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H03K-003/01
출원번호 US-0601659 (1996-02-14)
우선권정보 JP-0075784 (1995-03-31)
발명자 / 주소
  • Tsukikawa Yasuhiko,JPX
  • Ooishi Tsukasa,JPX
출원인 / 주소
  • Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha, JPX
대리인 / 주소
    McDermott, Will & Emery
인용정보 피인용 횟수 : 13  인용 특허 : 2

초록

An output current of a constant current source formed of a gate potential control circuit and a p channel MOSFET is determined only by the sub threshold swing value of a p channel MOSFET and a resistance of a resistor. A signal out 1 controlling the operation of a ring oscillator circuit is switched

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A substrate potential generation circuit supplying a predetermined substrate potential to a semiconductor substrate, comprising:first substrate potential level detection means for providing a first control signal according to a comparison result of a substrate potential a

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. Sato Katsuyuki (Kodaira JPX) Yanagisawa Kazumasa (Kokubunji JPX), Semiconductor memory device having a back-bias voltage generator.
  2. Taguchi Masao (Kawasaki JPX), Voltage generator for a semiconductor integrated circuit.

이 특허를 인용한 특허 (13)

  1. Kim,Jung Pill, Back-bias voltage generator with temperature control.
  2. Vilas Boas, Andre Luis; Saez, Richard Titov Lara; Ribeiro Do Nascimento, Ivan Carlos; Campos, Marcelo de Paula; Zanetta, Pedro Barbosa, Feedback circuit and methods for negative charge pump.
  3. Kim, Dong Kyun, Internal voltage generation circuit for generating stable internal voltages withstanding varying external conditions.
  4. Kim,Jung Pill; Oh,Jong Hoon; Bowyer,Stephen; Alexander,George, Internal voltage generator with temperature control.
  5. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  6. Franch,Robert L.; Jenkins,Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  7. Franch,Robert L.; Jenkins,Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  8. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
  9. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
  10. Lee, Yonghwan; Nishimizu, Manabu; Okada, Yoshinori, Power supply circuit.
  11. Young Pochung ; Li Li-Chun, Power supply insensitive substrate bias voltage detector circuit.
  12. Kim Tae-Hoon,KRX, Reference voltage generating circuit.
  13. Jefferson David, Temperature compensated delay chain.
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