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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0964615 (1997-11-05) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 18 인용 특허 : 4 |
A method and apparatus for measuring metallic impurities within a fluid by X-ray fluorescence in which a sample stream flowing at a constant flow rate is passed through a microporous filter. The microporous filter contains substantially no metallic impurities and is configured to adsorb the particul
[ I claim:] [1.] A method of measuring metallic impurities contained within a gas and comprising at least one metallic compound, said method comprising:metering a sample stream composed of said gas so that said sample stream flows at a constant flow rate;passing the sample stream through to an micro
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