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Method and apparatus for measuring metallic impurities contained within a fluid

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-023/223
출원번호 US-0964615 (1997-11-05)
발명자 / 주소
  • Ma Ce
출원인 / 주소
  • The BOC Group, Inc. (a Delaware Corporation)
대리인 / 주소
    Rosenblum
인용정보 피인용 횟수 : 18  인용 특허 : 4

초록

A method and apparatus for measuring metallic impurities within a fluid by X-ray fluorescence in which a sample stream flowing at a constant flow rate is passed through a microporous filter. The microporous filter contains substantially no metallic impurities and is configured to adsorb the particul

대표청구항

[ I claim:] [1.] A method of measuring metallic impurities contained within a gas and comprising at least one metallic compound, said method comprising:metering a sample stream composed of said gas so that said sample stream flows at a constant flow rate;passing the sample stream through to an micro

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Trayford, III, Charles; Petrizzi, Jeffrey M., Filter cassette.
  2. Thomson, George M.; Thomson, Sandra M., Monitor for airborne dusts.
  3. Connolly Dennis J. (Alliance OH) Rackley John M. (Alliance OH) Stauffer Charles C. (Beloit OH), On-line monitor for particulate analyte in a moving liquid.
  4. Thornton Michael G. (10073 Jasmine Ct. Littleton CO 80125) Clark ; III Benton C. (10890 Park Range Rd. Littleton CO 80127), Portable x-ray fluorescence spectrometer for environmental monitoring of inorganic pollutants.

이 특허를 인용한 특허 (18)

  1. Wilson, Bary W.; Peters, Timothy J.; Shepard, Chester L.; Reeves, James H., Apparatus and method for fluid analysis.
  2. Wilson, Bary W.; Peters, Timothy J.; Shepard, Chester L.; Reeves, James H., Apparatus and method for fluid analysis.
  3. Shepard, Chester L.; Wilson, Bary W.; Kirihara, Leslie J.; Munley, John T.; Reeves, James H., Compact X-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis.
  4. Puusaari,Erkki Tapani; Shirokobrod,Oleg, Compensation for fluctuations over time in the radiation characteristics of the X-ray source in an XRF analyser.
  5. Wilson,Bary, Component specific machine wear determination with x-ray fluorescence spectrometry.
  6. Wilson, Bary W.; Shepard, Chester L., Dual x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis.
  7. Umezawa, Kazushige; Suzuki, Tokio; Chiba, Koichi; Uemori, Ryuji; Toh, Takehiko; Kondo, Hiroyuki; Fuchigami, Katsuhiro; Takeuchi, Eiichi; Wakoh, Masamitsu; Ono, Akihiro, Evaluation apparatus for cleanliness of metal and method thereof.
  8. Adiletta, Joseph G., Filter for gas analysis.
  9. Matoba,Yoshiki; Fukai,Takayuki; Takahashi,Masanori; Ikku,Yutaka, Fluorescent X-ray analysis apparatus.
  10. Keville,Robert F.; Dietrich,Daniel D., Ionic pre-concentration XRF identification and analysis device, system and method.
  11. Ohzu, Akira; Esaka, Fumitaka; Yasuda, Kenichiro, Method for detecting fine particles in fluid with X-ray.
  12. Ruettimann, Fredy, Method for the sample preparation of liquid or paste-like substances for measurements with X-ray fluorescence and sample bodies suited therefor.
  13. Shubinsky, Gary P.; Rezachek, Thomas M.; Koch, Michael J.; Yamaguchi, Takashi, Photoacoustic sensor diffusion membrane attachment structure.
  14. Burdett, Jr., John H.; Dunham, Daniel L.; Quinn, James B., Pre-filmed precision sample cell for x-ray analyzer.
  15. Kishida, Mayuko; Komatani, Shintaro; Ohzawa, Sumito; Kurozumi, Takuji; Goto, Satoru; Kinba, Takashi; Arimoto, Kimihiko, Sample cell for fluorescent X-ray analysis and sample cell assembly instrument.
  16. Stock, Tore; Ronaes, Egil; Hilton, Thomas, X-ray fluorescence analyzer.
  17. Nohara, Hiroaki; Matoba, Yoshiki; Sakai, Noriaki; Takeuchi, Toshitada, X-ray fluorescence spectrometer comprising a gas blowing mechanism.
  18. Cooper, John Arthur; Fry, Sarah Catherine; Johnsen, Bruce Edward, XRF analyzer.
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