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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0100276 (1998-06-19) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 9 인용 특허 : 7 |
A complementary conditioning system for use in chemical mechanical polishing (CMP). The present invention functions with a CMP machine adapted for polishing a semiconductor wafer having tungsten components fabricated thereon. A polishing pad is mounted on the CMP machine. The polishing pad has a pol
[ What is claimed is:] [1.] A complementary conditioning system for use in chemical mechanical polishing (CMP), comprising:a CMP machine adapted for polishing a semiconductor wafer, said semiconductor wafer having tungsten components fabricated thereon;a polishing pad mounted on said CMP machine, sa
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