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Complementary material conditioning system for a chemical mechanical polishing machine 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B24B-001/00
출원번호 US-0100276 (1998-06-19)
발명자 / 주소
  • Drill Charles F.
  • Gabriel Calvin
  • Weling Milind
  • Russ Richard
  • Henderson David E.
출원인 / 주소
  • VLSI Technology, Inc.
대리인 / 주소
    Wagner, Murabito & Hao LLP
인용정보 피인용 횟수 : 9  인용 특허 : 7

초록

A complementary conditioning system for use in chemical mechanical polishing (CMP). The present invention functions with a CMP machine adapted for polishing a semiconductor wafer having tungsten components fabricated thereon. A polishing pad is mounted on the CMP machine. The polishing pad has a pol

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A complementary conditioning system for use in chemical mechanical polishing (CMP), comprising:a CMP machine adapted for polishing a semiconductor wafer, said semiconductor wafer having tungsten components fabricated thereon;a polishing pad mounted on said CMP machine, sa

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Hempel ; Jr. Eugene O. (Garland TX), CMP polishing pad conditioning apparatus.
  2. Chen Lai-Juh,TWX, Chemical-mechanical polish (CMP) pad conditioner.
  3. Jackson Paul D. (Scottsdale AZ) Schultz Stephen C. (Gilbert AZ) Sanford James E. (Mesa AZ) Ong Glen (Tempe AZ) Rice Richard B. (Chandler AZ) Modi Parag S. (Phoenix AZ) Baca John G. (Tempe AZ), Conditioner for a polishing pad and method therefor.
  4. Cesna Joseph V. (Niles IL) Van Woerkom Anthony G. (Gilbert AZ), Device for conditioning polishing pads.
  5. Mallon Thomas G. (Santa Clara CA), Keyed end effector for CMP pad conditioner.
  6. Appel Andrew T. (Dallas TX) Chisholm Michael F. (Plano TX), Semiconductor substrate conditioning head having a plurality of geometries formed in a surface thereof for pad condition.
  7. Hempel ; Jr. Eugene O., Vibrating polishing pad conditioning system and method.

이 특허를 인용한 특허 (9)

  1. Lin Chih-Lung,TWX ; Chang Y. C.,TWX, Apparatus and method for cleansing a polishing pad.
  2. Son, Jun Ho; Seo, Sung Bum, Cleaning device for chemical mechanical polishing equipment.
  3. Thomas, Danielle A., Fingerprint detector with scratch resistant surface and embedded ESD protection grid.
  4. Tolles, Robert D., Material for use in carrier and polishing pads.
  5. Nelson W. White, II ; Albert H. Liu, Method and apparatus for conditioning a polish pad at the point of polish and for dispensing slurry at the point of polish.
  6. Falster Robert J.,ITX ; Leoni Fabrizio,ITX ; Bricchetti Marco,ITX ; Corradi Alessandro,ITX, Process for the removal of copper from polished boron doped silicon wafers.
  7. Tolles, Robert D., Substrate polishing apparatus.
  8. Tolles, Robert D., Substrate polishing article.
  9. Tolles, Robert D., Substrate polishing article.
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