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Surface anomaly-detection and analysis method 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06K-009/00
  • G06K-009/42
  • G06K-009/20
  • E01C-023/02
출원번호 US-0999216 (1997-12-29)
발명자 / 주소
  • Kil David H.
  • Shin Frances B.
  • Rose David W.
출원인 / 주소
  • Lockheed Martin Corporation
대리인 / 주소
    Gresham
인용정보 피인용 횟수 : 16  인용 특허 : 8

초록

A method (30) is provided for the detection and analysis of anomalies (32) in a road surface (36). An image (34) of the road surface (36) is obtained (82) wherein traffic control markings (76) are masked (88). The image (34) is filtered (90) and a pixel map (92) is produced (98). The pixel map (92)

대표청구항

[ What is claimed is:] [24.] A method for the detection and analysis of anomalies in a road surface, said method comprising the steps of:a) obtaining an image of said road surface including any number of said anomalies;b) masking, within said image, traffic control markings upon said road surface;c)

이 특허에 인용된 특허 (8)

  1. Brecher Virginia H. (West Cornwall CT) Chou Paul B.-L ; (Montvale NJ) Hall Robert W. (Jericho VT) Parisi Debra M. (Carmel NY) Rao Ravishankar (White Plains NY) Riley Stuart L. (Colchester VT) Sturzen, Automated defect classification system.
  2. Spies Hans (Pfaffenhofen DEX) Weishaupt Walter (Munich DEX), Method and a device for recognizing the condition of a road.
  3. Brady Mark J. (Cottage Grove MN) Cerny Darin G. (Minneapolis MN), Method and apparatus for background determination and subtraction for a monocular vision system.
  4. Adams Brent L. (3808 Kim La. Gibsonia PA 15044) Dingley David J. (4099 S. 550 East #15F Salt Lake City UT 84107) Field David P. (628 E. 630 North Pleasant Grove UT 84062), Method and apparatus for identification of crystallographic defects.
  5. Lemelson Jerome, Method and apparatus for road hole repair including preparation thereof.
  6. Worster Bruce W. ; Lee Ken K., Method for characterizing defects on semiconductor wafers.
  7. Powell Joseph P. (Veradale WA) Bender Donald L. (Spokane WA) Saunders Sam C. (Pullman WA) Purnell Larry W. (Spokane WA) Khattak Anwar S. (Spokane WA 4), Pavement inspection apparatus.
  8. McKaughan Stephen V. (Arlington MA) Nevers Gary F. (Lynn MA) Landry Joseph W. (Saugus MA) Fallon John P. (Andover MA) Adomaitis Paul R. (Trafford PA), Video web inspection system employing filtering and thresholding to determine surface anomalies.

이 특허를 인용한 특허 (16)

  1. Fujiki, Yuichi; Haas, Norman; Li, Ying; Otto, Charles A.; Paluri, Balamanohar; Pankanti, Sharathchandra, Anomaly detection in images and videos.
  2. Duvdevani,Sharon; Gilat Bernshtein,Tally; Klingbell,Eyal; Mayo,Meir; Rippa,Shmuel; Smilansky,Zeev, Apparatus and methods for the inspection of objects.
  3. Duvdevani,Sharon; Gilat Bernshtein,Tally; Klingbell,Eyal; Mayo,Meir; Rippa,Shmuel; Smilansky,Zeev, Apparatus and methods for the inspection of objects.
  4. Duvdevani,Sharon; Gilat Bernshtein,Tally; Klingbell,Eyal; Mayo,Meir; Rippa,Shmuel; Smilansky,Zeev, Apparatus and methods for the inspection of objects.
  5. Stack, Matthew E., Application of smooth pursuit cognitive testing paradigms to clinical drug development.
  6. Gilat Bernshtein,Tally; Gutman,Zeev, Cam reference for inspection of contour images.
  7. Koide, Hiroshi, Image processor for a digital image of an object having a crack.
  8. Higgins-Luthman, Michael J.; Lu, Yuesheng; Gebauer, Duane W., Machine vision for predictive suspension.
  9. Nonaka, Yusuke; Segawa, Eigo, Medium storing image processing program, image processing method, and image processing device.
  10. Troxler, Robert Ernest, Method and apparatus for determining a characteristic of a construction material.
  11. Platner David K. ; Burmeister Kurt A. ; Hughes Thomas,GBX ; Ledesma Ragnar H. ; Miller Steven R. ; Reynolds Mark P. ; Williams Monte G., Method and system for predicting road profile.
  12. Troxler, Robert Ernest; Pratt, Jr., James Daniel, Method of determining a dimension of a sample of a construction material and associated apparatus.
  13. Troxler, Robert Ernest, Optical method and apparatus for determining a characteristic such as volume and density of an excavated void in a construction material.
  14. Stack, Matthew E., Optical neuroinformatics.
  15. Wang, Xiaoguang, System and method for identifying defects in a material.
  16. Eng, Donald; Izak, Robert G., Vehicle suspension system and method of using the same.
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