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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0935913 (1997-09-23) |
우선권정보 | JP-0303898 (1996-10-29) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 27 인용 특허 : 14 |
A temperature control apparatus for a sample susceptor has a cooling unit for cooling a sample susceptor on which a wafer W is mounted, an electric heater for heating the sample susceptor, a temperature detecting unit for detecting the temperature of the sample susceptor, and a temperature adjusting
[ I claim:] [1.] A temperature control apparatus, comprising:a susceptor for mounting a sample thereon, said susceptor having a plurality of gas flow paths, said gas flow paths allowing low-temperature air for cooling to pass therethrough, said gas flow paths having a common low-temperature air rece
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