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Substrate cleaning method and apparatus 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B24B-001/00
출원번호 US-0084013 (1998-05-26)
우선권정보 JP-0134603 (1997-05-26)
발명자 / 주소
  • Aoki Hidemitsu,JPX
출원인 / 주소
  • NEC Corporation, JPX
대리인 / 주소
    Foley & Lardner
인용정보 피인용 횟수 : 15  인용 특허 : 8

초록

A substrate cleaning method includes the steps of supplying a cleaning fluid containing fine argon particles or fine carbon dioxide gas particles to a nozzle unit which is accommodated in a vacuum container and in which spray nozzle holes are arranged to blow the cleaning fluid toward a plurality of

대표청구항

[ What I claim is:] [1.] A substrate cleaning method comprising the steps of:supplying a cleaning fluid containing fine argon particles or fine carbon dioxide gas particles to a nozzle unit which is accommodated in a vacuum container and in which spray nozzle holes are arranged to blow said cleaning

이 특허에 인용된 특허 (8)

  1. Kosic Thomas J., Apparatus and method for cleaning large glass plates using linear arrays of carbon dioxide (CO.sub.2) jet spray nozzles.
  2. Blackwood Robert S. (Chanhassen MN), Apparatus for and method of cleaning and removing static charges from substrates.
  3. Bowers Charles W., Electrostatic discharge protection of static sensitive devices cleaned with carbon dioxide spray.
  4. Bjornard Erik J. (Northfield MN) Kurman Eric W. (Northfield MN) Shogren David A. (Lakeville MN) Hoffman Jeffrey J. (Inver Grove Heights MN), Method and apparatus for cleaning substrates in preparation for deposition of thin film coatings.
  5. Gillis ; Jr. Patrick J. (Stoughton MA) Sklar Benjamin (Plymouth MA) Kral Andrew J. (Walpole MA) Randolph Marshall C. (Wellesley MA), Mobile CO2 blasting decontamination system.
  6. Tsuchiya Takashi (Tokyo JPX) Ishii Osamu (Kanagawa JPX), Powder beam etching machine.
  7. Tamai Tadamoto (Tokyo JPX) Ikeya Yoichiro (Houya JPX), Surface cleaning with argon.
  8. Peterson Ronald V. (Thousand Oaks CA) Krone-Schmidt Wilfried (Fullerton CA), System for precision cleaning by jet spray.

이 특허를 인용한 특허 (15)

  1. Vanstone, Scott; Mullin, Ronald; Antipa, Adrian; Gallant, Robert, Accelerated finite field operations on an elliptic curve.
  2. Deok-Joo Yoon KR; Myeon-Chang Sung KR; Kwang-Ho Jeong KR, Apparatus and method for dry cleaning of substrates using clusters.
  3. Jackson,David P., Carbon dioxide snow apparatus.
  4. Sonoda, Yuzuru; Yamanishi, Toshiyuki, Cleaning method and apparatus using fluid spraying.
  5. Banerjee, Souvik; Chung, Harlan Forrest, Liquid-assisted cryogenic cleaning.
  6. Banerjee,Souvik; Chung,Harlan Forrest, Liquid-assisted cryogenic cleaning.
  7. Freriks,Johannes Maria; Banine,Vadim Yevgenyevich; Ivanov,Vladimir Vitalevitch, Method for cleaning a lithographic apparatus module, a cleaning arrangement and a lithographic apparatus comprising the cleaning arrangement.
  8. Freriks,Johannes Maria; Banine,Vadim Yevgenyevich; Ivanov,Vladimir Vitalevitch; Klunder,Derk Jan Wilfred; Van Herpen,Maarten Marinus Johannes Wilhelmus, Method for cleaning a lithographic apparatus module, a cleaning arrangement and a lithographic apparatus comprising the cleaning arrangement.
  9. Jackson, David P., Method of forming cryogenic fluid composition.
  10. Vaupel, Mathias; Bernrieder, Sebastian; Koller, Adolf; Martens, Stefan, Separation of semiconductor devices from a wafer carrier.
  11. Hashimoto, Yukihiro, Substrate processing apparatus and substrate processing method.
  12. Barber, Steven J., System and method of cooling turbines.
  13. Barber, Steven J., System and method of cooling turbines.
  14. Martens, Stefan; Vaupel, Mathias, Testing process for semiconductor devices.
  15. Banerjee, Souvik; Chung, Harlan Forrest, Vapor-assisted cryogenic cleaning.
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