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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0832415 (1997-04-02) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 41 인용 특허 : 12 |
A pulsed eddy current (PEC) instrument acquires PEC pulse responses from different locations on a structure being inspected. The difference between the acquired PEC pulse responses and a reference PEC response is determined to obtain time-domain difference signals having a time value and a magnitude
[ What is claimed is:] [19.] A pulsed eddy current (PEC) inspection apparatus comprising:a scanning apparatus capable of being positioned over a structure to be inspected;a PEC probe attached to the scanning apparatus for scanning the probe over the structure during an inspection, wherein the probe
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