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Circuit generator of a constant electric signal which is independent from temperature and manufacturing process variables 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-031/00
출원번호 US-0063419 (1998-04-20)
발명자 / 주소
  • Milanesi Andrea,ITX
출원인 / 주소
  • SGS-Thomson Microelectronics S.r.l., ILX
대리인 / 주소
    Galanthay
인용정보 피인용 횟수 : 11  인용 특허 : 7

초록

A circuit for the generation of an electrical signal of constant duration comprises a capacitor, a constant current generator for charging the capacitor, and a voltage comparator to compare the voltage present at the terminals of the capacitor with a reference voltage. The voltage comparator supplie

대표청구항

[ I claim:] [1.] Circuit for the generation of an electrical signal of constant duration and independent of temperature and process variables, comprising:a capacitor;a constant current generator for charging the capacitor;a voltage comparator to compare the voltage present across the capacitor with

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Bennett Alton W. (Carlsbad CA), Compensated MOS timing network.
  2. Hashimoto ; Masaru, Constant current circuit.
  3. Furutani Kiyohiro (Hyogo JPX), Reference voltage generating circuit temperature-compensated without addition of manufacturing step and semiconductor de.
  4. Matthews Wallace Edward, Temperature compensated bias generator.
  5. Jiang Ching-Lin (Dallas TX), Temperature compensated monolithic delay circuit.
  6. Park Hong-June,KRX ; Lee Cheol-Hee,KRX, Temperature insensitive constant current generator.
  7. Harvey Robin J. (Thousand Oaks CA) Gallagher Hayden E. (Malibu CA) Schumacher Robert W. (Canoga Park CA), Wire-ion-plasma electron gun employing auxiliary grid.

이 특허를 인용한 특허 (11)

  1. Ken W. Marr, Memory structure utilizing four transistor load less memory cells and a bias generator.
  2. Ken W. Marr, Memory structure utilizing four transistor load less memory cells and a bias generator.
  3. Eberlein, Matthias, Method and circuit for compensating MOSFET capacitance variations in integrated circuits.
  4. Ken W. Marr, Method of controlling the conduction of the access transistors of a load less, four transistor memory cell.
  5. Marr Ken W., Method of modifying the current conducted by the access transistors of a load less, four transistor memory cell.
  6. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  7. Franch,Robert L.; Jenkins,Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  8. Franch,Robert L.; Jenkins,Keith A., On chip temperature measuring and monitoring circuit and method.
  9. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
  10. Franch, Robert L.; Jenkins, Keith A., On chip temperature measuring and monitoring method.
  11. Rohilla, Gajender; Kutz, Harold, Programmable reference signal selection.
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