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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0921810 (1997-09-02) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 8 인용 특허 : 5 |
A method for performing a bakeout test on a vacuum chamber without causing the ion gauge to fail turns the ion gauge off when it is not needed, even during part of the time that the chamber is held at a high vacuum, so as to minimize the opportunity for contaminants to react with and damage the ion
[ I claim:] [1.] A method of testing a vacuum system having a chamber, a high vacuum pump and a pressure gauge, comprising:pumping the chamber to a high vacuum;turning the pressure gauge on during a first period of high vacuum;turning the pressure gauge off during a second period of high vacuum;acti
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