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Reticle cleaning apparatus for wafer exposure system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • F26B-011/22
출원번호 US-0156602 (1998-09-18)
우선권정보 KR-0078887 (1997-12-30)
발명자 / 주소
  • Kim Beom-Soo,KRX
출원인 / 주소
  • LG Semicon Co., Ltd., KRX
대리인 / 주소
    Morgan, Lewis & Bockius LLP
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 21

초록

A reticle cleaning apparatus for a wafer exposure system includes a chamber enclosing the reticle, a door opening and closing at least one side of the chamber, a door switching member opening and closing the door coupled to the chamber including the door, a gas injection nozzle at an upper portion o

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A reticle cleaning apparatus for a wafer exposure system, comprising:a chamber enclosing the reticle;a door opening and closing at least one side of the chamber;a door switching member opening and closing the door coupled to the chamber including the door;a gas injection

이 특허에 인용된 특허 (21)

  1. Rose Peter H. ; Sferlazzo Piero ; van der Heide Robert G., Aerosol surface processing.
  2. Vetter William L. (American Fork UT) Mortensen Dennis L. (Sandy UT), Apparatus for cleaning and rinsing wafers.
  3. Brooks Ray G. ; Brooks Timothy W. ; Fowler Stephen L., Apparatus for packaging contaminant-sensitive articles and resulting package.
  4. Sakata Kazunari (Sagamihara JPX) Ishii Katsumi (Kanagawa JPX) Yamaga Kenichi (Sagamihara JPX), Apparatus for processing semiconductors.
  5. Anderson Gary L. ; Wilson Keith, Apparatus for use in cleaning wafers.
  6. Reix Jean-Michel,FRX ; Cina Georges,FRX ; Philipoussi Jean-Pierre,FRX, Clean room.
  7. Wurst Manfred P. (Stuttgart DEX) Simon Rudolf (Korntal-Muenchingen DEX) Kahlden Thomas V. (Stuttgart DEX), Container for the handling of semiconductor devices and process for particle-free transfer.
  8. Ludwig Joachim (Jena DEX), Device for transporting magazines for molding wafer-shaped objects.
  9. Matsumoto Yukako (Kawasaki JPX) Miyaji Akira (Tokyo JPX), Exposure apparatus.
  10. Miyaji Akira (Tokyo JPX) Ikeda Masatoshi (Tokyo JPX), Exposure apparatus.
  11. Maydan Dan ; Mak Steve S. Y. ; Olgado Donald ; Yin Gerald Zheyao ; Driscoll Timothy D. ; Papanu James S. ; Tepman Avi, Gas injection slit nozzle for a plasma process reactor.
  12. Verhovsky Yuli, Mechanism for transporting semiconductor-process masks.
  13. Ferrell Gary W. (608 Terrace Ave. Half Moon Bay CA 94019), Method and apparatus for drying parts and microelectronic components using sonic created mist.
  14. Brooks Ray G. (Irving TX) Brooks Timothy W. (Irving TX) Corris C. James (Elkmont AL), Method and apparatus for maintaining clean articles.
  15. Brooks Ray G. (Irving TX) Brooks Timothy W. (Irving TX), Method and apparatus for maintaining sensitive articles in a contaminant-free environment.
  16. Hasegawa Takayuki,JPX ; Fujioka Hidehiko,JPX ; Yoneyama Yoshito,JPX, Processing System and semiconductor device production method using the same including air conditioning control in opera.
  17. Rose Peter H. ; Sferlazzo Piero, Processing a surface.
  18. Nishida Tatsuya,JPX ; Miyachi Kenji,JPX ; Oka Syujiro,JPX, Processing apparatus of processing wafer sheets.
  19. Yamada Yoshiaki,JPX ; Watanabe Hiroshi,JPX, Semiconductor wafer storage apparatus and semiconductor device fabricating apparatus using said apparatus.
  20. Weigand Peter,DEX ; Shoda Naohiro, Semiconductor wafer temperature measurement and control thereof using gas temperature measurement.
  21. Thompson Raymon F. (Kalispell MT) Owczarz Aleksander (Kalispell MT), Single wafer processor with a frame.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Salamati-Saradh Sima ; Guldi Richard L. ; Wyke David R., Apparatus for in-situ reticle cleaning at photolithography tool.
  2. Blattner,Jakob; Federici,Rudy, Device and method for cleaning articles used in the production of semiconductor components.
  3. Brouwer, Egbert Anne Martijn; Van Brug, Hedser, Inspection apparatus, lithographic system provided with the inspection apparatus and a method for inspecting a sample.
  4. Van Mierlo, Hubert Adriaan; Heerens, Gert Jan; Meiling, Hans; Bastein, Antonius Gerardus Theodorus Maria; Van der Donck, Jacques Cor Johan; Van Brug, Hedser, Lithographic apparatus and method.
  5. Heerens, Gert-Jan; Donders, Sjoerd Nicolaas Lambertus; Spanjers, Franciscus Andreas Cornelis Johannes; Van Meer, Aschwin Lodewijk Hendricus Johannes; Castenmiller, Thomas Josephus Maria, Lithographic apparatus, apparatus cleaning method, device manufacturing method and device manufactured thereby.
  6. Reid, Paul B., Method and apparatus for in-situ lithography mask cleaning.
  7. Guldi Richard L. ; Brooks Jimmie, System for processing wafers and cleaning wafer-handling implements.
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