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Apparatus for extracting pattern features

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G02B-027/30
출원번호 US-0186367 (1998-11-05)
우선권정보 JP-0089634 (1993-04-16)
발명자 / 주소
  • Takahashi Tomoichi,JPX
  • Tateishi Kazuyoshi,JPX
  • Watabe Akinori,JPX
출원인 / 주소
  • Nippon Telegraph and Telephone Corporation, JPX
대리인 / 주소
    Finnegan, Henderson, Farabow, Garrett & Dunner, L.L.P.
인용정보 피인용 횟수 : 9  인용 특허 : 14

초록

An apparatus is presented for extracting configurational features of an object formed by a number of surfaces with a two-dimensional laser pattern. Changes in the shape can be tracked, and speedy three-dimensional measurements are made possible in a small memory area without requiring parameter adju

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A two-dimensional laser pattern generating device comprising a semiconductor laser and a collimating lens which transforms the optical laser beam generated by this semiconductor laser into a plane wave beam, wherein said device controls the movement of said collimating le

이 특허에 인용된 특허 (14)

  1. Kimura Kenji (Tachikawa JPX), Apparatus for driving objective lens in tracking direction.
  2. Nishiberi Nozomu (Higashikurume JPX), Beam scanning apparatus and apparatus for writing image information.
  3. Ellis, Gordon W.; Ichie, Koji, Confocal laser scanning transmission microscope.
  4. Bellar Dennis R. (Orlando FL), Laser beam scanning device and marking system.
  5. Noguchi ; Masaru, Light beam scanner with parallelism error correction.
  6. Kano Yukio (Aichi JPX) Iwata Kuniyoshi (Aichi JPX), Light source device for measuring shape.
  7. Svetkoff Donald J. (Ann Arbor MI) Doss Brian (Ann Arbor MI) Smith David N. (South Lyons MI), Method and system for high-speed, 3-D imaging of an object at a vision station.
  8. Minakuchi Tadashi,JPX ; Oono Masahiro,JPX ; Iima Mitsunori,JPX ; Kanazawa Hiroshi,JPX, Multi-beam scanning optical device.
  9. Yoshida Tomio (Katano JPX) Nakata Yoshinobu (Ikoma JPX) Ohara Shunji (Higashiosaka JPX) Satoh Toshio (Hirakata JPX), Optical recording and playback apparatus using plural light spots.
  10. Morimoto Akira (Tokyo JPX) Ohwaki Akira (Tokyo JPX), Optical scanning system and method for adjusting thereof.
  11. Koch Stephen K. (2804 Hunnicut Ct. Travis TX 78748), Ranging system for three-dimensional object digitizing.
  12. Koch Stephen K. (2804 Hunnicut Ct. Austin ; Travis TX 78748), Scanning system for three-dimensional object digitizing.
  13. Dewar Robert (Troy MI) Salinger Jeremy (Southfield MI) Waldecker Thomas J. (Ypsilanti MI) Barlow Neil E. (Royal Oak MI), Sensor-illumination system for use in three-dimensional measurement of objects and assemblies of objects.
  14. Penney Carl M. (Schenectady NY) Roy Robert N. (Altamonte Springs FL) Thomas Bradley S. (Altamonte Springs FL), Swept aperture flying spot profiler.

이 특허를 인용한 특허 (9)

  1. Sanii, Babak; Burgess, James R., Anamorphic recording method and apparatus.
  2. Yamada, Masato; Suzuki, Yoshihisa, Beam irradiation apparatus.
  3. Shinoda Tatsuo,JPX, Image capture system.
  4. DiFrancesco, David; Burgess, James, Method and apparatus for beam deflection using multiple beam scanning galvanometers.
  5. Dromaretsky, Alexander, Optical pathway selector.
  6. Stuckey, Jeffrey A., Rapidly changing dichroic beamsplitter in epifluorescent microscopes.
  7. Muramatsu,Shigeru, Self-calibrating transducer system and musical instrument equipped with the same.
  8. Demers, Daniel; Legendre, Ludovic; Otis, Frederic, System and method for inspecting the interior surface of a pipeline.
  9. Dromaretsky Alexander ; Osipchuk Yuri, Wavelength-selective mirror selector.
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