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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0169401 (1998-10-09) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 43 인용 특허 : 17 |
Low defect density, low impurity bulk single crystals of AlN, SiC and AlN:SiC alloy are produced by depositing appropriate vapor species of Al, Si, N, C on multiple nucleation sites that are preferentially cooled to a temperature less than the surrounding surfaces in the crystal growth enclosure. Th
[ That which is claimed:] [1.] A method of producing bulk single crystals of AlN.sub.x :SiC.sub.y where x+y=1 and x is 1.fwdarw.0 and y is 0.fwdarw.1, comprising the steps of:providing in a crystal growth enclosure vapor species of selected elements Al, Si, N and C necessary to grow bulk single crys
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