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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0219708 (1998-12-23) |
우선권정보 | JP-0358622 (1997-12-25) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 60 인용 특허 : 2 |
In a conventional MOS semiconductor device of a thin film SOI structure, excessive carriers accumulated in the channel region cause some problems, such as a decreased drain breakdown voltage and formation of kink in the current-voltage relationship, resulting in malfunction. Accordingly, drainage of
[ We claim:] [1.] An electro-optical apparatus comprising;a substrate;a matrix of pixel regions formed on the substrate;a transistor having a gate electrode and a channel region provided to each of the matrix of pixel regions;a first scanning signal line electrically connected to the sate electrode
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