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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0008243 (1998-01-16) |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 40 인용 특허 : 50 |
A calibration and part inspection method and apparatus for the inspection of ball grid array, BGA, devices. Two cameras image a precision pattern mask with dot patterns deposited on a transparent reticle. The precision pattern mask is used for calibration of the system. A light source and overhead l
[ What is claimed is:] [1.] An apparatus for inspecting a ball grid array, wherein the apparatus is calibrated using a precision pattern mask with dot patterns deposited on a calibration transparent reticle, the apparatus for inspecting a ball grid array comprising:a) a means for mounting the ball g
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