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Method for monitoring and controlling laser shock peening using temporal light spectrum analysis 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/63
  • G01N-021/88
출원번호 US-0365887 (1999-08-03)
발명자 / 주소
  • Trantow Richard L.
  • Suh Ui W.
출원인 / 주소
  • General Electric Company
대리인 / 주소
    Hess
인용정보 피인용 횟수 : 18  인용 특허 : 11

초록

A method for quality assurance of a laser shock peening process of workpieces includes measuring and recording or temporal light intensity data over a short period during the duration of a plasma associated with the vaporized material from laser shots fired during a production laser shock peening pr

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A method for quality control testing of a laser shock peening process of production workpieces, said method comprising the following steps:(a) firing at least one laser beam pulse from a laser shock peening apparatus on a metallic surface associated with the workpiece and

이 특허에 인용된 특허 (11)

  1. Tan, Tai Ho; Williams, Arthur H., Apparatus for recording emissions from a rapidly generated plasma from a single plasma producing event.
  2. Schiller Norman H. (Whitestone NY) Alfano Robert R. (Bronx NY), Compact temporal spectral photometer.
  3. Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX), Electro-optical streak camera.
  4. Somers Ralph M. ; Winiarz Marek L. ; Risbeck James D., Laser shock peening quality assurance by volumetric analysis of laser shock peened dimple.
  5. Gifford George G. (Bethel CT) Osborn Brock E. (Hyde Park NY), Method and system employing optical emission spectroscopy for monitoring and controlling semiconductor fabrication.
  6. Shih Ishiang (3300 Bahama St. Brossard ; Quebec CAX J4Z 2R4 ) Phong Linh Ngo (1035 Viger Sainte Foy ; Quebec ; G1W 2P8 CAX) Qiu Cindy Xing (6215 Bienville St. Brossard ; Quebec CAX J4Z 1W6 ) Laou Phi, Methods for wavelength discrimination of monochromatic light beams.
  7. Hammer Jacob M. (Princeton NJ), Optoelectronic interconnections for integrated circuits.
  8. Nicholson James E. (Austin TX) Parker Jack H. (Kettering OH) Mathur Jagdish P. (Austin TX) Hull David M. (Austin TX), Spectral discrimination using temporal mapping of light pulses through optical filters.
  9. Bartolomei Leroy Albert ; Read Thomas ; Shevlin Craig, Sputtering device and method for reactive for reactive sputtering.
  10. Tomlinson ; III Walter J. (Holmdel NJ), Time-division multiplexed spectrometer.
  11. Jacobowitz Lawrence (Poughkeepsie NY) Mathisen Einar S. (Poughkeepsie NY) Thorp Lawrence D. (Yorktown NY), Wide band grating spectrometer.

이 특허를 인용한 특허 (18)

  1. Mika, David P.; Karafillis, Apostolos P., Airfoil qualification system and method.
  2. Lloyd Hackel ; Fritz Harris, Contour forming of metals by laser peening.
  3. Duesler, Paul D.; Filewich, Paul, DMZ fracture boundary limit.
  4. Duesler, Paul D.; Filewich, Paul, DMZ fracture boundary limit.
  5. Michael Evans Graham ; John Dennis Jackson, Dual laser shock peening.
  6. Hosch, Jimmy W.; Goeckner, Matthew J.; Whelan, Mike; Kueny, Andrew Weeks; Harvey, Kenneth C.; Thamban, P.L. Stephan, Electron beam exciter for use in chemical analysis in processing systems.
  7. Lloyd A. Hackel ; C. Brent Dane ; Fritz Harris, Identification marking by means of laser peening.
  8. Hackel, Lloyd A.; Halpin, John M.; Harris, Jr., Fritz B., Laser peening of components of thin cross-section.
  9. Hackel, Lloyd A.; Halpin, John M.; Harris, Jr., Fritz B., Laser peening of components of thin cross-section.
  10. Suh, Ui Won; Risbeck, James Douglas, Laser shock peening quality assurance by acoustic analysis.
  11. Bayer,Erwin; Wagner,Henri, Method and device for hardening a metal component by plasma pulse technology.
  12. Care, Ian C. D., Method of treating an aerofoil.
  13. Viertl,John Ruediger Mader; Schumaker,Tymm Bradner, Methods and apparatus for evaluating rotary machinery.
  14. Warren, Jr.,Richard Edwin; Staver,Phillip Randall, Monitored laser shock peening.
  15. Hackel, Lloyd A.; Halpin, John M.; Harris, Fritz B., Pre-loading of components during laser peenforming.
  16. Sokol, David W.; Walters, Craig T.; Epstein, Harold M.; Clauer, Allan H.; Dulaney, Jeffrey L.; O'Loughlin, Mark, Quality control plasma monitor for laser shock processing.
  17. Wu,Pingfan Peter; Benicewicz,Pamela King; Azer,Magdi Naim, System and method for monitoring laser shock processing.
  18. Garza,Jose Abiel, laser aligned shotpeen nozzle.
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