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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0772722 (1996-12-23) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 7 인용 특허 : 10 |
A system for measuring level of material in a vessel that includes a transmission line probe adapted to be positioned for contact with material in the vessel. Electronics are coupled to the transmission line probe for launching microwave radiation along the probe and detecting radiation reflected by
[ What is claimed is:] [1.] A system for measuring level of material in a vessel that comprises:a transmission line probe adapted to be positioned for contact with material in the vessel such that an impedance discontinuity is presented along said probe at the air/material interface in the vessel,me
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