최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0064875 (1998-04-23) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
대리인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 39 인용 특허 : 5 |
A highly reliable semiconductor device having superior flatness and highly precise pattern is obtained. A first metal interconnection 7a is formed on a semiconductor substrate 1. An interlayer insulating film 8a is provided on semiconductor substrate 1 to cover the first metal interconnection 7a. A
[ What is claimed is:] [1.] A method of manufacturing a semiconductor device having multilayered metal interconnection structure, comprising the steps of:preparing a semiconductor substrate having a first metal interconnection formed thereon;forming a first silicon oxide film by plasma CVD method on
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.