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Semiconductor temperature sensor

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-031/58
출원번호 US-0047441 (1998-03-25)
우선권정보 JP-0253459 (1997-09-18)
발명자 / 주소
  • Karaki Toshiro,JPX
출원인 / 주소
  • Nissan Motor Co., Ltd., JPX
대리인 / 주소
    McDermott, Will & Emery
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 9

초록

A polysilicon gate layer, a first n.sup.+ diffusion region serving as a drain region, and a second n.sup.+ diffusion region serving as a source region form a MOSFET, and then an operating point of the MOSFET is set into its saturation region by connecting a gate layer and a drain region of the MOSFE

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A semiconductor temperature sensor comprising:(a) a semiconductor substrate of first conductivity type;(b) a first semiconductor region of second conductivity type formed on the semiconductor substrate;(c) a second semiconductor region of second conductivity type formed o

이 특허에 인용된 특허 (9)

  1. Fujihira Tatsuhiko (Kanagawa JPX), An overheating detection circuit including a reversely biased junction having a temperature dependent reverse leakage cu.
  2. Yamaguchi Kazumi (Tokyo JPX) Sawada Masami (Tokyo JPX) Yamada Manabu (Tokyo JPX) Hagimoto Keizo (Tokyo JPX), Integrated semiconductor device with temperature sensing circuit and method for operating same.
  3. Fay Gary V. (Scottsdale AZ) Robb Stephen P. (Tempe AZ) Sutor Judith L. (Chandler AZ) Terry Lewis E. (Phoenix AZ), Process for forming a semiconductor structure with closely coupled substrate temperature sense element.
  4. Furuhata Shoichi (Nagano JPX), Semiconductor device.
  5. Nakura Hideaki (Osaka JPX) Yokozawa Masami (Kyoto JPX) Tsubaki Kazuhiko (Hyogo JPX) Yoshimura Masasuke (Kyoto JPX), Semiconductor device comprising an over-temperature detection element for detecting excessive temperature of amplifiers.
  6. Yoshioka Kentaro (Ohiramura JPX), Semiconductor device with anchored interconnection layer.
  7. Tsuzuki Yukio (Aichi JPX) Yamaoka Masami (Anjo JPX), Semiconductor device with protective means against overheating.
  8. Toyooka Tamotsu (Itabashi JPX) Shibata Yoshiki (Yotsukaido JPX), Semiconductor integrated circuit having function of preventing rise of surface temperature.
  9. Hierold Christofer,DEX, Thermal sensor/actuator in semiconductor material.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Vollertsen, Rolf-Peter, Apparatus and method for measuring local surface temperature of semiconductor device.
  2. Shiraishi,Hidetoshi, Failure detection circuit.
  3. Mitchell,Charles W.; Maupin,Patrick; Caldwell,Dervinn, Method and apparatus for using an on-board temperature sensor on an integrated circuit.
  4. Gold,Spencer M.; Gauthier,Claude R.; Boyle,Steven R.; House,Kenneth A.; Siegel,Joseph, Method and system for monitoring and profiling an integrated circuit die temperature.
  5. Ohkubo, Hiroaki; Nakashiba, Yasutaka, Semiconductor integrated circuit device.
  6. Bachand, Charles Keith; Lemke, Scott James; Sule, Ambarish Mukund; Ghasemazar, Mohammad; Franco, Osvaldo, Systems, apparatus, and methods for temperature detection.
  7. Tokunaga, Yasuhiro, Temperature detection from differences in off leak currents of NMOS and PMOS transistors on CPU chip.
  8. Kamezawa, Tomoya; Takata, Naoki; Hirota, Masayuki; Hiraga, Masahiro; Ibori, Satoshi, Temperature detection method of semiconductor device and power conversion apparatus.
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