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Tire configuration judging device and tire classifying method using the same

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/00
  • G01B-011/00
출원번호 US-0185593 (1998-11-04)
우선권정보 JP-0304400 (1997-11-06)
발명자 / 주소
  • Kaneko Tomoyuki,JPX
  • Murayama Tokuhiro,JPX
출원인 / 주소
  • Bridgestone Corporation, JPX
대리인 / 주소
    Sughrue, Mion, Zinn, Macpeak & Seas, PLLC
인용정보 피인용 횟수 : 15  인용 특허 : 5

초록

A tire configuration judging device according to the present invention comprises a light projecting (emitting) device, a photographing device, and a control device. The light projecting device irradiates slit light onto a bead portion of a tire. The photographing device photographs a slit image whic

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A tire configuration judging device, comprising:light irradiating means which irradiates slit light onto a predetermined range of a tire surface, whose configuration is to be detected, of a tire;photographing means which is disposed at a predetermined position correspondi

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. Kawauchi Yasunobu (Fussa JPX) Ogino Yasuo (Nagaizumi JPX) Ogata Shozo (Kannami JPX), Apparatus for inspecting articles.
  2. Shiba Masataka (Yokohama JPX) Funatsu Ryuichi (Yokohama JPX) Taniguchi Motoya (Kamakura JPX) Tanaka Minoru (Yokohama JPX) Inagaki Akira (Yokohama JPX), Information detecting system of scanning type.
  3. Downing Elizabeth A. (Sunnyvale CA) Rogers Steven W. (Conway AR) Titsworth Raymond (Conway AR) Christian Donald J. (Fremont CA) Baird Michael L. (Los Altos CA), Light scanning system for measurement of orientation and physical features of a workpiece.
  4. Yamada Kouji (Kodaira JPX) Marumoto Yoshio (Kodaira JPX) Mizuno Tetsuo (Kodaira JPX), Method and apparatus for detecting tire information mark.
  5. Wessner ; Jr. William J. (Akron OH), Tire processing system.

이 특허를 인용한 특허 (15)

  1. Sakoda, Naokazu; Takahashi, Eiji; Morimoto, Tsutomu; Matsushita, Yasuhiro; Nonaka, Toshikatsu; Horiguchi, Shiro, Apparatus and method for detecting tire shape.
  2. Sukegawa, Tetsuya, Appearance inspection apparatus and appearance inspection method with uneveness detecting.
  3. Wu, Chen; Mukherjee, Debargha; Wang, Meng, Depth map generation from a monoscopic image based on combined depth cues.
  4. Wu, Chen; Mukherjee, Debargha; Wang, Meng, Depth map generation from a monoscopic image based on combined depth cues.
  5. Sukegawa, Tetsuya; Kokubu, Takao, Device and method for generating reference geometric data for tire inspection.
  6. Mukherjee, Debargha; Wu, Chen, Generation of a stereo video from a mono video.
  7. Sekiguchi, Toshikatsu, Method and apparatus for detecting surface unevenness of object under inspection.
  8. Iino, Hirotaka; Kaneko, Tomoyuki; Kokubu, Takao, Method and system for inspecting tire surface.
  9. Williams, David B.; Gephardt, Robert J.; Rummel, Samuel A., Method for inspecting an automotive wheel and associated apparatus.
  10. Tsuyoshi Anno JP; Hiroki Kunitake JP; Takahiro Gotou JP; Masamichi Kihara JP, Tire Inspecting method and apparatus.
  11. Fujii, Tomohiko; Mizutani, Akinobu, Tire contour measurement data correction method and tire visual inspection device.
  12. Mizutani, Akinobu, Tire inspection apparatus for inspecting the sidewall of the tire.
  13. Takahashi, Eiji; Sakoda, Naokazu; Morimoto, Tsutomu, Tire shape measuring system.
  14. Suita, Kazutsugu; Kimura, Kazufumi; Azumaya, Rikio, Tire type determination method and vehicle inspection method and system using the same.
  15. Pellerin,Dan; Teper,Boris R.; Hoy,Brian, Workpiece configuration detection system and method.
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